高頻低阻電解電容使用可靠性檢測

時間：2019-01-10作者：深圳市新晨陽電子有限公司瀏覽：15

對解讀高頻低阻電解電容使用可靠性檢測的分析有以下*特見解。 鋁電解電容器是電子元器件中重要的元器件之一， 是電子工程技術(shù)與許多**設備中不可缺少或不可取代的電子元器件，因此，電解電容器在使用之前都會進行使用可靠性的檢測，以確保電解電容器在使用過程中使用壽命較長，與其它電子元器件一起使用時較可靠、較安定。

鋁電解電容器使用可靠性檢測一般也叫電解電容老化測試，高頻低阻電解電容壽命測試等等，有很多方面的檢測，以下簡單分析幾個檢測方案。

? ?：電解電容器的高溫動態(tài)老化測試，在此測試過程中查看電解電容各項參數(shù)的變化與衰減和流失情況，這可就可以把不好的電解電容剔除掉。







*二:電解電容器的使用壽命測試，電解電容器的壽命測試是在電解電容老化測試的基礎(chǔ)上，對電解電容進行高頻沖電流下快速充放電測試，得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命，但是電解電容器壽命的得出是在電解電容器長時間的老化之后得出的。同時每提升電解電容器的環(huán)境溫度10度，電解電容器的壽命就會下降一半。如果想要電解電容器的壽命長，就要保證溫度。

*三：耐壓實驗，包括額定工作電壓24小時工作測試；也包括擊穿耐壓，即破壞性測試，電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。 *四：串聯(lián)電阻測試，絕緣電阻測試。





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  詞條說明

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