熱真空試驗(yàn)系統(tǒng)

時(shí)間：2017-01-10作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：296

產(chǎn)品名稱(chēng)：熱真空試驗(yàn)系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品性能：
   熱真空試驗(yàn)系統(tǒng)用于模擬太空環(huán)境，為衛(wèi)星產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境試驗(yàn)，可以提供-180℃～+180℃的溫度環(huán)境，以及較低1×10-6Pa真空度的環(huán)境，甚至可以安裝人造太陽(yáng)，模擬太空光照環(huán)境。本公司采用****的熱沉控溫方式對(duì)試驗(yàn)艙體進(jìn)行熱傳遞控溫，其均勻度非常好，能夠滿足美**的空間試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
   備注：內(nèi)部尺寸大小均可根據(jù)要求進(jìn)行設(shè)計(jì)。
   應(yīng)用情況： 衛(wèi)星在太空中，迎光面和背光面的溫差非常大，這種溫差的產(chǎn)生會(huì)對(duì)衛(wèi)星的可靠性造成很大的影響，所以必須做大量的試驗(yàn)加以驗(yàn)證。還有一些試件是一部分在衛(wèi)星表面，一部分在衛(wèi)星內(nèi)部的，也需要提供不同的溫度環(huán)境同步試驗(yàn)。這些環(huán)境工況都要在熱真空試驗(yàn)系統(tǒng)中模擬。
   重點(diǎn)內(nèi)容： 衛(wèi)星在太空中，迎光面和背光面的溫差非常大，這種溫差的產(chǎn)生會(huì)對(duì)衛(wèi)星的可靠性造成很大的影響，所以必須做大量的試驗(yàn)加以驗(yàn)證。還有一些試件是一部分在衛(wèi)星表面，一部分在衛(wèi)星內(nèi)部的，也需要提供不同的溫度環(huán)境同步試驗(yàn)。這些環(huán)境工況都要在熱真空試驗(yàn)系統(tǒng)中模擬。
產(chǎn)品詳細(xì)參數(shù)

真空容器技術(shù)指標(biāo)
 1. 臥式真空室（有效）：φ1400 mm×1900mm或定制；
 2. 觀察窗：φ120mm；
 3. 極限真空度（熱沉低溫空載）**5×10-5Pa；
 4. 工作真空度**1.3′10-4Pa；
 5. 真空計(jì)：測(cè)量范圍為105Pa～1×10-5Pa；
 6. 空載抽氣時(shí)間：從常壓至5×10-5Pa時(shí)間≤4小時(shí)；
 7. 熱沉結(jié)構(gòu)形式：臥式圓筒形；
 8. 熱沉有效尺寸：Φ1200mm×1800mm；
 9. 液氮制冷時(shí)，熱沉內(nèi)表面溫度≤100K，溫度均勻性**±5℃；
     宏展科技擁有一個(gè)專(zhuān)業(yè)從事環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備研發(fā)的科研機(jī)構(gòu)，具備成熟的環(huán)試研制手段與試驗(yàn)室，聚集了行業(yè)內(nèi)一批優(yōu)秀的各類(lèi)人才和***，強(qiáng)大的研發(fā)團(tuán)隊(duì)**著國(guó)內(nèi)環(huán)試技術(shù)發(fā)展方向．現(xiàn)目前公司具有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高低溫試驗(yàn)箱、高低溫濕熱試驗(yàn)箱、快速溫度變化試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、三綜合試驗(yàn)箱、高低溫低氣壓試驗(yàn)箱、太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱、工業(yè)烤箱以及步入式高低溫濕熱試驗(yàn)箱和高風(fēng)速淋雨試驗(yàn)箱等氣候環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備及訂制產(chǎn)品處于國(guó)內(nèi)良好、**高水準(zhǔn)。
廣東宏展科技有限公司專(zhuān)注于高低溫試驗(yàn)箱,恒溫恒濕試驗(yàn)箱,快速溫度循環(huán)試驗(yàn)箱等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 老化三要素

  光照、高溫和潮濕，這三個(gè)因素會(huì)造成材料的老化損害，同時(shí)也是日常中設(shè)備經(jīng)常會(huì)接觸到的元素，它們往往同時(shí)發(fā)生作用，所造成的危害將大于其中任一因素的單獨(dú)作用。1、光照不同材料對(duì)光的敏感性不同。對(duì)于經(jīng)久耐用的材料，如大多數(shù)涂料、塑料、紫外線的短波段是引起大部分聚合老化的原因。然而，對(duì)于不是那么經(jīng)久耐用的材料，比如一些顏料和染料，紫外線 的長(zhǎng)波段甚至可見(jiàn)光也會(huì)使其產(chǎn)生嚴(yán)重的才華。2、高溫當(dāng)溫度升高時(shí)，光的破

• 高低溫試驗(yàn)箱日常維護(hù)小方法

  高低溫試驗(yàn)箱日常維護(hù)小方法1.高低溫試驗(yàn)箱一般都比較高,我們建議將其置于比較良性溫度環(huán)境中,我們的經(jīng)驗(yàn)溫度值為8℃~23℃,對(duì)不具備此條件的實(shí)驗(yàn)室,須配備適當(dāng)?shù)目照{(diào)器或冷卻塔.?2.必須堅(jiān)持專(zhuān)人專(zhuān)業(yè)管理,有條件的單位應(yīng)不定期派專(zhuān)人到供方工廠培訓(xùn)學(xué)習(xí).以獲得較專(zhuān)業(yè)的維護(hù)、維修的經(jīng)驗(yàn)和能力. 宏展儀器3.固定每3個(gè)月清洗一次冷凝器:對(duì)于壓縮機(jī)采用風(fēng)冷冷卻的,應(yīng)定期檢修冷凝風(fēng)機(jī)并對(duì)冷凝器進(jìn)行去

• 芯片需要提前進(jìn)行烘烤處理嗎?

  在芯片生產(chǎn)過(guò)程中，可以通過(guò)合理的烘烤去除芯片表面的水分和其他物質(zhì)，通過(guò)烘烤，為**后面的焊接等重要工序，確保質(zhì)量，提高可靠性，并保護(hù)芯片的完整性，所以芯片的烘烤預(yù)處理是一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)。一、去除水分和其他有害物質(zhì)????在芯片制造過(guò)程中，芯片可能會(huì)暴露在潮濕的環(huán)境中，吸收大量水分。水分的存在會(huì)對(duì)焊接過(guò)程產(chǎn)生不利影響，例如會(huì)導(dǎo)致焊接接頭氣泡、焊接不牢固等問(wèn)題

• 冷熱沖擊試驗(yàn)箱可用于半導(dǎo)體芯片的測(cè)試

  芯片(chip)，又稱(chēng)微芯片（microchip），是集成電路的載體。一般而言，芯片（IC）泛指所有的半導(dǎo)體元器件，是在硅板上集合多種電子元器件實(shí)現(xiàn)某種特定功能的電路模塊。它是電子設(shè)備中*重要的部分，承擔(dān)著運(yùn)算和存儲(chǔ)的功能。?????溫度的改變對(duì)半導(dǎo)體的導(dǎo)電能力、極限電壓、極限電流以及開(kāi)關(guān)特性以及開(kāi)關(guān)特性等都有很大的影響。當(dāng)溫度過(guò)高時(shí)元器件體積發(fā)生