晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80 一、 產(chǎn)品簡介 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80是高性價比的晶振測試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實現(xiàn)智能化測量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)等精度測量。它測量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測量,可保存5個不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試,智能運算克服了市場上晶體阻抗計阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點、解除了手工校對的麻煩,讓晶振測試變得較輕松。 二、 主要技術(shù)指標(biāo) 1. 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設(shè)定 2. 負(fù)載電容:4-20P 任意設(shè)定 3. 負(fù)載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測量:±300ppm 5. PPm測量精度:< 0.5ppm 6. 時基頻率:16.384M 7. 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日 8. 體積:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年
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詞條說明
GDS-80晶振測試儀|晶體阻抗計技術(shù)參數(shù)
晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80 一、 產(chǎn)品簡介 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80是高性價比的晶振測試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實現(xiàn)智能化測量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 晶振測試儀/晶體阻抗計GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)等精度測量。它測量精
公司名: 深圳市智慧源電子有限公司
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