光譜儀測(cè)量單元元素板電路分析

時(shí)間：2018-10-22作者：江蘇力彩科技有限公司瀏覽：89

保護(hù)電路
集成塊U3以及其他通道相當(dāng)?shù)募呻娐?，都可能?huì)由于過(guò)電壓而被損傷。因此，R1、D17、C17組成一籍位電路。任何一個(gè)元素輸入通道的電壓，**過(guò)時(shí)，將通過(guò)D17穩(wěn)壓二極管而接地，對(duì)于**個(gè)通道，D1將電容器連到籍位器上，板上其他通道，則利用D2直至D16連接到相同的各自籍位電路上。
積分電容充電過(guò)程
由光電倍增管PMT產(chǎn)生的光電流，通過(guò)P2-A6端經(jīng)由電阻RN]-1，向電容器C1充電，事實(shí)上，系統(tǒng)需要從c1上零電位啟動(dòng)。雖然PWT在預(yù)燃時(shí)間內(nèi)也產(chǎn)生漏電流，但19的“A小、·B”模報(bào)開關(guān)5w0|處閉合狀態(tài)，使光電流短路接地。U19的“A”開關(guān)由P1-C6控制（D0位），U19的“B”開關(guān)由P1-AC28控制（DIDCHAGE——放電控制），當(dāng)處于“控制”階段時(shí)，U19的“A”、“B”開路，此時(shí)可允許PMT光電流向電容C1充電。光電流可由以下各因素決定：（1）樣品中元素的含量；（2）PMT加速較電壓；（3)激發(fā)條件。
如增加曝光時(shí)間，會(huì)影響C1的充電，正如**提到，如果C1電容器上充電過(guò)量，可能會(huì)損壞跟隨器。再如，送到測(cè)量板和A/D轉(zhuǎn)換器上的電壓**過(guò)5V時(shí)，也有損壞現(xiàn)象。為防止**過(guò)極限，在曝光時(shí)間內(nèi)，每秒鐘對(duì)每個(gè)元素電容器采集25次。當(dāng)電壓達(dá)到時(shí)（閥值電壓），測(cè)量板信號(hào)傳送給計(jì)算機(jī)讓存儲(chǔ)電容器即放電。
如果曝光繼續(xù)進(jìn)行，電容器再次被充電，一直重復(fù)此過(guò)程。因此，對(duì)某些高含量元素，在一個(gè)曝光周期，電容器可以放電數(shù)次。對(duì)含量非常低的元素，則可能達(dá)不到閥值電壓（）。積分電壓經(jīng)U27（Mux-16芯片）28端TRANSFER VOLT經(jīng)P2-AC22端加到MB板進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換。


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• 詞條

  詞條說(shuō)明

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