GE Phoenix 離線X光檢測(cè)設(shè)備

時(shí)間：2020-03-23作者：深圳億興智能設(shè)備有限公司瀏覽：6

GE phoenix microme|x/nanome|x 180kV高分辨率微焦點(diǎn)/納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng) 可選三維CT功能 

特點(diǎn) ? 自主冷卻和溫度穩(wěn)定控制的數(shù)字DXR平板探測(cè)器具有 高動(dòng)態(tài)響應(yīng)進(jìn)行實(shí)時(shí)成像 ? 細(xì)節(jié)分辨率可達(dá)0.5微米或0.2微米的180kV/20W高功 率亞微米/納米X射線管 ? 具有CAD文件導(dǎo)入的x|act軟件可編程和自動(dòng)檢測(cè) ? 采用金剛石靶材，在同等質(zhì)量影像條件下數(shù)據(jù)截取 的速度可快2倍 ? 可選三維CT掃描功能，實(shí)現(xiàn)10秒的快速掃描

phoenix microme|x/nanome|x 高性能X射線檢測(cè)系統(tǒng)
phoenix microme|x和nanome|x系列結(jié)合高分辨率二維X射線技術(shù)和CT技術(shù)于一體，性能優(yōu)異且運(yùn)行定位精確 高使得系統(tǒng)具有高效和可靠的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于二維和三維離線檢測(cè)要求：產(chǎn)品研發(fā)，失效分析，產(chǎn)品制造 和質(zhì)量控制。 phoenix|x-ray x|act技術(shù)提供了簡(jiǎn)便的基于CAD文件導(dǎo)入的自動(dòng)檢測(cè)程序，具有微米級(jí)檢測(cè)能力，特別是受益 于GE高動(dòng)態(tài)響應(yīng)和主動(dòng)冷卻特性的DXR平板探測(cè)器，有可達(dá)30fps刷新率，提供了**的實(shí)時(shí)清晰圖像和高速 三維CT掃描性能。
高功率下高分辨率: diamond|window 相比于傳統(tǒng)的鈹窗口，microme|x DXR-HD采用金剛石窗口靶材，可以有較高 功率下較小的聚焦光點(diǎn)，保證了高輸出功率下較高的分辨率 ?  在實(shí)現(xiàn)同等影像水平下數(shù)據(jù)截取速度可快2倍 ?  高功率下高分辨率 ?  無毒靶材 ?  在長(zhǎng)期檢測(cè)時(shí)間下改善聚焦光點(diǎn)的穩(wěn)定性 ?  高功率下低損耗，提高靶壽命
金剛石窗口 鈹窗口 (相同射線參數(shù): 130 kV, 11.4 W)
GE特有的高動(dòng)態(tài)響應(yīng)DXR平板探測(cè)器有增強(qiáng)閃爍體技術(shù)，開創(chuàng)了新一代的 高效實(shí)時(shí)成像檢測(cè)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。 ?   1000x1000像素與30幀頻全屏刷新率和低噪點(diǎn)的清晰成像品質(zhì)，保證 快速實(shí)時(shí)成像檢測(cè) ?  主動(dòng)溫度穩(wěn)定控制系統(tǒng)保證精確可靠的檢測(cè)要求 ?  三維CT模式下的高速數(shù)據(jù)截取 ?  達(dá)到0.5/0.2微米的細(xì)節(jié)分辨率可進(jìn)行高性能失效分析 
高分辨率三維CT 對(duì)于小型樣品的**檢測(cè)和三維分析，可選phoenix特有的CT技術(shù) ?   180 kV高功率X射線射線管技術(shù)，與DXR數(shù)字平板探測(cè)器和金剛石窗口 靶配合下具有快速影像截取，并結(jié)合phoenix快速數(shù)據(jù)重建軟件，得 到高質(zhì)量的檢測(cè)結(jié)果 ?   大體元分辨可小至2微米，nanome|x的nanoCT功能可提供較高清晰 度的影像 


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• GE Phoenix 離線X光檢測(cè)設(shè)備

  GE phoenix microme|x/nanome|x 180kV高分辨率微焦點(diǎn)/納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng) 可選三維CT功能 特點(diǎn) ? 自主冷卻和溫度穩(wěn)定控制的數(shù)字DXR平板探測(cè)器具有 高動(dòng)態(tài)響應(yīng)進(jìn)行實(shí)時(shí)成像 ? 細(xì)節(jié)分辨率可達(dá)0.5微米或0.2微米的180kV/20W高功 率亞微米/納米X射線管 ? 具有CAD文件導(dǎo)入的x|act軟件可編程和自動(dòng)檢測(cè) ? 采用金剛石靶材，在同等質(zhì)量影像條件下數(shù)

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