PHL應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xWPA-200-MT

時(shí)間：2020-05-13作者：北京歐屹科技有限公司瀏覽：7

 WPA-200-XL簡(jiǎn)介：  
WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*特的測(cè)量技術(shù)，高速而又精確的測(cè)量能力使其成為**的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測(cè)量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測(cè)量，全面掌握應(yīng)力分布?？蓽y(cè)數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器，較適合用來測(cè)量光學(xué)薄膜或透明樹脂,量化測(cè)量結(jié)果，二維圖表可以較直觀的讀取數(shù)據(jù)。

 
WPA-200-XL主要特點(diǎn)：
操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度可以快到3秒。 
采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內(nèi)可一次測(cè)量，測(cè)量范圍廣。
測(cè)量數(shù)據(jù)是二維分布圖像，可以較直觀的讀取數(shù)據(jù)。
具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡(jiǎn)單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。


WPA-200-XL主要應(yīng)用:
光學(xué)零件（鏡片、薄膜、導(dǎo)光板）
透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
高分子材料（PET PVA COP ACRYL PC COC PMMA）
透明基板（玻璃、石英、藍(lán)寶石、單結(jié)晶鉆石）
  
 
技術(shù)參數(shù):

項(xiàng)次      項(xiàng)目                    具體參數(shù)

1.       輸出項(xiàng)目               相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】


2.      測(cè)量波長(zhǎng)                 520nm、543nm、575nm


3.      雙折射測(cè)量范圍       0-3500nm


4.      測(cè)量較小分辨率         0.001nm


5.      測(cè)量重復(fù)精度            <1nm（西格瑪）


6.       視野尺寸                   218x290mm-360×480mm（標(biāo)準(zhǔn)）


7.      選配鏡頭視野            無選配


8.      選配功能                   實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實(shí)現(xiàn)外部控制，CD模式


北京歐屹科技有限公司專注于應(yīng)力雙折射儀,內(nèi)應(yīng)力測(cè)量?jī)x,無掩膜光刻機(jī)等

• 詞條

  詞條說明

• 新品發(fā)布-VR鏡頭**應(yīng)力雙折射測(cè)量設(shè)備

  PHL公司較新推出一款**于VR鏡片的的評(píng)估設(shè)備WPA-VR ，適應(yīng)于研發(fā)和在線式檢測(cè)。1， 斯托克斯參數(shù)S3的面分布測(cè)量。Pancake鏡片薄型化的技術(shù)，在于鏡頭內(nèi)含有控制整體偏光的偏光片與QWP(1/4玻片)結(jié)構(gòu)。藉由表示綜合偏光控制性能的斯托克斯參數(shù)S3的整面分布信息可以評(píng)估模材貼合時(shí)的皺褶、氣泡等缺陷狀況2， RGB三原色測(cè)量，利用三原色量測(cè)，可了解各色狀態(tài)下QWP的相位差及S;差異狀況三

• 新品發(fā)布-ELIONIX納米壓痕儀

  可以獲得薄膜、極性表面和微小區(qū)域的硬度和彈性模量等機(jī)械性能。?由于分析載荷和位移曲線以確定特性，因此*觀察壓痕。符合ISO 14577-1/JIS Z 2255標(biāo)準(zhǔn)外部及內(nèi)部溫度控制防震機(jī)構(gòu)壓頭校正、溫度校正日常檢測(cè)提醒數(shù)據(jù)再現(xiàn)性 ?該機(jī)制可抑制振動(dòng)和溫度變化等外部干擾的影響，提高數(shù)據(jù)的再現(xiàn)性 ?即使在連續(xù)測(cè)量中也能實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的高負(fù)荷單元和低負(fù)載單元的更換方便 ?通過更換設(shè)備進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)

• PHL應(yīng)力雙折射儀PA-300-MT

  PA-300-MT 簡(jiǎn)介： PA系列是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x，PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm，可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其**技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*有的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的**選擇。 PA-300-MT主要特點(diǎn)：

• PHL應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xWPA-200-MT

  WPA-200-XL簡(jiǎn)介： WPA-200-XL系列是Photonic lattic公司以其良好世界的光子晶體制造技術(shù)開發(fā)的產(chǎn)品，*特的測(cè)量技術(shù)，高速而又精確的測(cè)量能力使其成為**的光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品。 該產(chǎn)品在測(cè)量過程中可以對(duì)視野范圍內(nèi)樣品一次測(cè)量，全面掌握應(yīng)力分布?？蓽y(cè)數(shù)千nm高相位差分布的萬用機(jī)器，較適合用來測(cè)量光學(xué)薄膜或透明樹脂,量化測(cè)量結(jié)果，二維圖表可以較直觀的讀取數(shù)據(jù)。 WPA-200