怎么用頻譜分析儀測量相位噪聲?安泰維修

時間：2021-08-30作者：西安安泰測試設(shè)備維修有限公司瀏覽：157

相信很多人一定很好奇，為什么不能僅僅使用頻譜分析儀行業(yè)在成像雷達，移動通信，衛(wèi)星通信，天氣監(jiān)測等應(yīng)用中，對頻譜純信號的需求不斷增長。今天，西安安泰頻譜儀維修中心小編告訴大家，其實這需要對信號生成設(shè)備進行，準(zhǔn)確和可再現(xiàn)的表征。需要**的相位噪聲和幅度噪聲測量系統(tǒng)，其測量本底噪聲通常**-180 dBc / Hz。所需要的是用于測量晶體振蕩器(VCXO，OCXO)，SAW振蕩器，合成器，鎖相環(huán)和VCO(鎖定或自由運行的高Q)的 相位噪聲的儀器，以及放大器，混頻器，分頻器和乘法器。

盡管可以使用頻譜分析儀來產(chǎn)生一些特性，但是西安安泰頻譜儀維修中心小編想說，它對于區(qū)分幅度和相位噪聲不是很有幫助。不僅無法分離振幅和相位噪聲，而且頻譜分析儀的動態(tài)范圍和底噪也不足。頻譜分析儀中內(nèi)部本地振蕩器的相位噪聲過高，并且它們?nèi)狈Ψ直媛蕩挕Ｒ虼?，需要一個專門的系統(tǒng)，該系統(tǒng)**行解調(diào)然后分別分析幅度和相位噪聲。

測量信號源相位噪聲1

西安安泰頻譜儀維修中心小編分享以下解決方案

總部位于瑞士的Anapico生產(chǎn)了APPH系列自動信號源分析儀，其將幅度調(diào)制和相位調(diào)制測量分開，可以獨立測量非常低的噪聲水平(**-180 dBc / Hz)，并具有測量有源和無源附加噪聲的能力組件。APPH分析儀可提供高達30GHz的測量能力，并具有完全集成的互相關(guān)系統(tǒng)，可響應(yīng) 常見的相位，幅度和基帶噪聲測量問題，可提供高 和重現(xiàn)性，測量速度，高動態(tài)范圍以及低系統(tǒng)本底噪聲，同時仍可為實驗室和生產(chǎn)環(huán)境提供可承受的價格。

系統(tǒng)架構(gòu)

APPH系列的 引擎將低噪聲模擬接收器通道與**的數(shù)字信號處理技術(shù)結(jié)合在一起，可提供且可重復(fù)的噪聲測量。專有的基于FPGA的FFT交叉分析儀實時處理125MSa / s，可在幾秒鐘內(nèi)完成數(shù)千個相關(guān)性和-170dBc / Hz以下的測量。由LAN或USB控制的APPH系列可以使用PC，筆記本電腦或平板電腦作為控制器，因此*集成顯示器，從而可以 地降低產(chǎn)品成本，同時提高可靠性。

校準(zhǔn)

將系統(tǒng)封裝在緊湊的無風(fēng)扇機箱中，可以進一步消除雜散信號以及接地和電源線環(huán)路。西安安泰頻譜儀維修中心小編提醒大家，另一個非常重要的考慮因素是校準(zhǔn)。出廠前，每臺儀器均根據(jù)可溯源的噪聲標(biāo)準(zhǔn)進行了校準(zhǔn)，以確保高 ，一致和可重復(fù)的結(jié)果。可選地，儀器可以提供校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)品，以使用戶可以隨時進行現(xiàn)場性能驗證。

測量能力

Anapico的APPH儀器支持的測量包括：使用內(nèi)部或外部參考的相加或 相位噪聲測量，幅度噪聲測量以及其他用于評估RF信號源的自動測量。對于晶體振蕩器，PLL合成器，時鐘，鎖相VCO，DRO等源，可以輕松進行SSB相位噪聲，幅度噪聲，AM噪聲測量，加性或殘留噪聲表征以及高達30GHz的基帶噪聲測量。

結(jié)論

西安安泰頻譜儀維修中心小編發(fā)現(xiàn)，APPH系列相位噪聲測試儀提供了完整的測量功能，可評估各種射頻信號源。它們提供了全面的測量功能，例如相位和幅度噪聲測量，殘余噪聲表征，可直接訪問FFT分析儀進行基帶信號和LF噪聲分析。使用經(jīng)過驗證的互相關(guān)測量程序和自校準(zhǔn)例程，即使在變化的環(huán)境條件下也可以獲得可重復(fù)且準(zhǔn)確的測量結(jié)果。全自動的頻率采集和自校準(zhǔn)功能大大簡化了儀器的使用和適用范圍，從而實現(xiàn)了測量和易于操作。

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