美國THORLABS色散測量儀-Chromatis

    天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國THORLABS色散測量儀Chromatis

    產(chǎn)品型號:Chromatis

    關鍵字:THORLABS色散測量儀Chromatis

    關鍵字描述:Chromatis色散測量系統(tǒng)具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源,其有效波長范圍為500至2100 nm。

    產(chǎn)品介紹:

    用于測量色散的白光干涉儀

    穩(wěn)定鹵素光源的寬帶**

    可安裝?1/2英寸和?1英寸的光學元件

    標準測量模式,包含夾具和參考光學元件

    0°反射

    0° - 70°透射

    5° - 70°角度反射

    可選反射鏡對夾具

    同時測量S偏振和P偏振

    包含用于波長自校準的HeNe參考激光器

    包含用于空間對準的紅光和綠光二極管激光器

    可選兩個用戶可更換的探測器

    機架式2U柜(3.5英寸面板高度)中包含電子設備

    Chromatis色散測量系統(tǒng)可表征用于飛秒脈沖激光器的反射和透射光學組件的群延遲色散(GDD)特性??烀}沖在通過光學系統(tǒng)傳播時會變寬;了解每個光學元件引起的GDD并適當補償失真,可以恢復短脈沖寬度。為了獲得高度準確和可靠的結果,Chromatis使用時域白光干涉儀(WLI)來測量GDD。該色散測量系統(tǒng)包含軟件,可指導用戶進行光束對準(條紋優(yōu)化)、自動找到零延時位置(max.條紋對比)并快速測量色散。

    Chromatis色散測量系統(tǒng)具有光纖耦合的穩(wěn)定鹵素光源,其有效波長范圍為500至2100 nm。該寬帶光源可表征為用于鈦藍寶石、摻鐿光纖和摻鉺光纖激光器的快光學元件。由于干涉圖是在時域中記錄,因此可以使用單個光電二極管探測器(而不是光譜儀)進行測量,并且內(nèi)置的HeNe參考激光器可對波長軸進行校準。該系統(tǒng)包括一個波長為500-1100 nm的硅光電二極管。但是,可以很*地連接InGaAs探測器進行1000-1650 nm波長范圍內(nèi)的測量。

    參數(shù):

    色散測量系統(tǒng)(不包括光學和鏡對夾具)

    快速表征光學組件中的色散

    寬帶光譜范圍:500-2100 nm

    GDD測量精度:±5 fs2

    反射和透射模式

    組成:寬帶、低色散分束器和兩個延遲臂

     

     

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