掃描電子顯微鏡SEM

時(shí)間：2022-03-05作者：昂星新型碳材料常州有限公司瀏覽：662

一、產(chǎn)品概述
名稱：掃描電子顯微鏡SEM
原理：
用入射電子束轟擊樣品表面，電子與元素原子核及外層電子發(fā)生碰撞，在此過程中有99%以上的入射電子能量轉(zhuǎn)變成樣品熱能，而其余約1%的入射電子能量從樣品中激發(fā)出各種信號(hào)。掃描電鏡設(shè)備就是通過這些信號(hào)得到訊息，從而對(duì)樣品進(jìn)行分析的。
型號(hào)：Zeiss Gemini 300，S4800
二、產(chǎn)品應(yīng)用：
應(yīng)用領(lǐng)域：


廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗(yàn)和研究。


昂星新型碳材料常州有限公司專注于倍半硅氧烷,多孔碳材料,改性石墨烯,晶須,散熱膜濾餅,氧化石墨烯,昂星等

• 詞條

  詞條說明

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