一.納米粒度及zeta電位分析儀的介紹
梓夢(mèng)科技的ZS-920系列納米粒度及zeta電位分析儀是三合一的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),該系統(tǒng)集成了動(dòng)態(tài)光散射 DLS電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS,可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)。
其中動(dòng)態(tài)光散射法是用于測(cè)量粒度及分子大小;該技術(shù)可測(cè)量布郎運(yùn)動(dòng)下移動(dòng)顆粒的擴(kuò)散情況,使用光子探測(cè)器在固定的角度采集散射光,通過(guò)相關(guān)器進(jìn)行自相關(guān)運(yùn)算得到相關(guān)函數(shù),再經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)反演獲得顆粒粒徑信息;Zeta電位測(cè)量是分子和顆粒在施加的電場(chǎng)作用下做電泳運(yùn)動(dòng),其運(yùn)動(dòng)速度和zeta電位直接相關(guān),Zeta電位與電泳遷移率關(guān)系遵循h(huán)erry方程,通過(guò)測(cè)量顆粒在電場(chǎng)中的電泳遷移率就能得出顆粒的zeta電位;靜態(tài)光散射法用于確定蛋白質(zhì)與聚合物的分子量。在此檢測(cè)方法中,檢測(cè)不同濃度下樣品的散射光強(qiáng),并且繪制曲線,由此可計(jì)算出平均分子量及*二維里系數(shù),從而得到分子溶解程度。
二.納米粒度及zeta電位分析儀的應(yīng)用行業(yè)
納米粒度及zeta電位分析儀廣泛應(yīng)用于納米材料,生物醫(yī)藥,精細(xì)化工,油漆涂料,食品藥品,航空航天,*科技等行業(yè)。在納米材料方面主要是用于研究納米金屬氧化物,納米金屬粉,納米陶瓷材料的粒度對(duì)材料性能的影響;生物醫(yī)藥方面主要是分析從蛋白質(zhì),DNA,RNA,病毒,道各種抗原抗體的粒度;精細(xì)化工方面主要是用于尋找納米催化劑的較佳粒度分布,以降低化學(xué)反應(yīng)溫度,提高反應(yīng)速度;油漆涂料方面主要是用于測(cè)量油漆,涂料,硅膠,聚合物膠乳,顏料,油墨,水/油乳液,調(diào)色劑,化妝品等樣品中納米顆粒物的粒徑;食品藥品方面主要用于藥物表面包覆蓋納米微粒可使其高效緩釋,并可以制成靶的藥物,可用來(lái)控制藥物粒度的大小,以便較好的發(fā)揮藥物的療效;航空航天方面主要用于納米金屬粉添加到火箭固體推進(jìn)劑中,可以顯著改進(jìn)推進(jìn)劑燃燒性能,可用于研究金屬粉的較佳粒度分布;*科技方面主要用于納米材料增加電磁能轉(zhuǎn)化為熱能的效率,從而提高對(duì)電磁波的吸收性能,可以制成電磁波吸波材料,不同粒徑納米材料具有不同的光學(xué)特性,可用于研究吸波材料的性能。
納米粒度及zeta電位分析儀之所以能受廣大客戶的喜愛(ài),除了它應(yīng)用的行業(yè)廣泛之外,納米粒度及zeta電位分析儀的控制軟件具有納米顆粒粒度和zeta電位測(cè)量功能,一鍵式測(cè)量,自動(dòng)調(diào)整散射光強(qiáng), *用戶干涉,自動(dòng)優(yōu)化光子相關(guān)器參數(shù),以適應(yīng)不同樣品,讓測(cè)量變得如此輕松。控制軟件較具有標(biāo)準(zhǔn)化操作(SOP)功能,讓不同實(shí)驗(yàn)室、不同實(shí)驗(yàn)員間的測(cè)量按照同一標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,測(cè)量結(jié)果較具有可比性。測(cè)量完成自動(dòng)生成報(bào)表,以可視化的方式展示測(cè)量結(jié)果,讓測(cè)量結(jié)果一目了然。
上海梓夢(mèng)科技有限公司專注于顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀,不溶性微粒儀等
詞條
詞條說(shuō)明
微流圖像法粒度儀——微流動(dòng)態(tài)圖像法的重要特點(diǎn)
隨著生物醫(yī)藥的發(fā)展,對(duì)不溶性微粒的要求又提出了新的挑戰(zhàn),就是硅油、蛋白自身的聚集的問(wèn)題,常規(guī)的光阻法和顯微計(jì)數(shù)法不溶性微粒儀的測(cè)試會(huì)把蛋白本身判定為不溶性顆粒,如此這兩種測(cè)試方式都存在一定的限度。需要新的微流動(dòng)態(tài)圖像法(Flow Imaging)儀器做測(cè)試。微流圖像法粒度儀是采用動(dòng)態(tài)流式成像檢測(cè)的特點(diǎn)是:樣本在流經(jīng)樣本檢測(cè)池的過(guò)程中,在固定的檢測(cè)窗口處,由高精密高頻成像儀對(duì)
納米粒度及Zeta電位分析儀簡(jiǎn)明操作規(guī)程
上海梓夢(mèng)科技有限公司是一家專注于生物醫(yī)藥行業(yè)和材料分析表征,秉承為客戶著想,專注服務(wù)于客戶,提供整套納米粒度及Zeta電位分析儀的方案,下面就是關(guān)于納米粒度及Zeta電位分析儀的操作規(guī)程。 介紹納米粒度及Zeta電位分析儀的操作規(guī)程之前,請(qǐng)?jiān)试S我先介紹關(guān)于納米粒度及Zeta電位分析儀的操作原理。納米粒度及zeta電位分析儀的操作原理是當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時(shí),由于顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)引
隨著成像系統(tǒng)科技的不斷發(fā)展,粒度粒形分析儀得到了廣泛的應(yīng)用,從固體粉末藥物API原料藥粒度測(cè)試,到半固體乳膏液滴粒徑測(cè)試,擠出劑粒度大小的測(cè)定,再到葉片病斑面積的情況測(cè)試,粒度粒形分析儀在醫(yī)藥、**、鋰電、涂料、過(guò)濾行業(yè)、機(jī)械加工、農(nóng)業(yè)等各個(gè)行業(yè)的使用,無(wú)不證明在今天粒度粒形分析儀在科技發(fā)展中占據(jù)了一席之地。 粒度粒形分析儀根據(jù)其所采用的硬件可以分為顯微鏡法、掃描法、相機(jī)拍照法。本文主要介紹的是
透皮乳膏粒度分析儀之利丙雙卡因(恩納)Emla乳膏粒度分布檢測(cè)方法
粒度是各種材料的主要性能指標(biāo),粒度檢測(cè)已經(jīng)成為醫(yī)藥材料生產(chǎn)、應(yīng)用、研究的一項(xiàng)重要的基礎(chǔ)性工作。有關(guān)固體顆粒粉末的粒度測(cè)試文章比較多,接下來(lái)給大家分享一下半固體軟膏的粒度測(cè)試方法。以利丙雙卡因Emla乳膏粒度測(cè)定為例。 常見(jiàn)的粒度檢測(cè)方法有很多,例如:激光粒度儀,動(dòng)態(tài)光散射法、光阻法、圖像法、離心沉降法、庫(kù)爾特法、超聲波法以及篩分法等等。而常規(guī)的粒度我們一般使用激光粒度儀就可以解決了,但是半固體粒度
公司名: 上海梓夢(mèng)科技有限公司
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