X射線熒光光譜儀的主要用途

時間：2022-05-12

主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，**次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業(yè)。原則上，較輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。

主要用途

儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的較大尺寸要求為直徑51mm,高40mm。

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詞條
詞條說明
rohs檢測儀有哪些性能
RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標準的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯苯PBB六種有害物質的儀器。rohs檢測儀性能半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動濾光片選擇多種準直器自動自由切換三重安全保護模式相互獨立的基體效應校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動開關軟件定位樣品平臺，較小位移0.01mm自動切換準直器和濾光片，分別針對不同樣
X射線熒光光譜儀的儀器類別及特點
X射線熒光光譜儀一種射線式分析儀器,是X射線分析儀器的一種常用形式。X射線熒光光譜儀能分析原子序數 12～92的所有元素，選擇性高，分析微量組分時受基體的影響小，在地質、采礦和冶金等部門應用很廣。X射線熒光光譜儀：儀器儀表、成份分析儀器、熒光光度計。?指標信息1、**源是Rh靶X光管，較大電流125mA，電壓60kV，最大功率3kW。2、儀器在真空條件下工作，真空度<13pasca
X射線熒光光譜儀的主要用途
主要使用X射線束激發(fā)熒光輻射，**次是在1928年由格洛克爾和施雷伯提出的。到了現在，該方法作為非破壞性分析技術，并作為過程控制的工具，廣泛應用于采掘和加工工業(yè)。原則上，較輕的元素，可分析出鈹（z=4），但由于儀器的局限性和輕元素的低X射線產量，往往難以量化，所以針對能量分散式的X射線熒光光譜儀，可以分析從輕元素的鈉（z=11）到鈾，而波長分散式則為從輕元素的硼到鈾。主要用途儀器是較新型X射線熒光
X射線熒光光譜儀技術原理
X射線熒光光譜儀另一方面，化學元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內層電子被激起，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進程。當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會被擊出。這一互相效果進程被稱為光電效應，被打出的電子稱為光電子