X光鍍層測厚儀詳細分析功能說明

時間：2022-06-11作者：蘇州實譜儀器有限公司瀏覽：416

     X光鍍層測厚儀綜合性能:鍍層分析、定性分析、定量分析、鍍液分析；
     鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
     鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,*購買標準藥液.
     性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
     光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
      X光鍍層測厚儀性能特點及優(yōu)勢： 
      高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求。φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結(jié)果較加，微小測試點較。X光鍍層測厚儀優(yōu)勢在于滿足客戶要求的情況下，價格較優(yōu)惠、售后服務較方便，維護成本較低。
      X光鍍層測厚儀的測量原理：
      物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。X光鍍層測厚儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

蘇州實譜儀器有限公司專注于手持式光譜儀,X熒光光譜儀,rohs檢測儀器等

• 詞條

  詞條說明

• 詳細解析x熒光鍍層測厚儀的應用和性能

  ? x熒光鍍層測厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可以測定各種金屬鍍層的厚度，包括單層、雙層、多層及合金鍍層等，可以進行電鍍液的成分和濃度測定。? ? ? x熒光鍍層測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會**出各自特征的X射線，不同的元素有不同的特征X射線、探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號

• X光鍍層測厚儀是采用磁性和渦流兩種方法進行測厚的

  ? ? ? X光鍍層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度，以及非磁性金屬基體上非導電覆層的厚度。本儀器具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量的檢測儀器。儀器廣泛運用于工業(yè)生產(chǎn)測厚中，包含鋼板厚度、卷皮帶厚度等，當然在實驗室精細測量中也有運用，包含航空航天、科研開發(fā)等范疇。? ? ? X光鍍層測

• X光鍍層測厚儀采用磁性和渦流兩種方法進行測厚

  ??????X光鍍層測厚儀可對電鍍液進行分析，不單性能優(yōu)越，而且價錢**值，同比其他牌子相同配置的機器，X光鍍層測厚儀為您大大節(jié)省成本。只需數(shù)秒鐘，便能非破壞性地得到準確的測量結(jié)果，甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任。全自動XYZ樣品臺，鐳射自動對焦系統(tǒng)，十字線自動調(diào)整。**大/開放式的樣品臺，可測量較大的產(chǎn)品。是線路板、五金電鍍、首飾、端子等

• X-RAY鍍層測厚儀的性能好，實用性強

  ? ? ?X-RAY鍍層測厚儀的原理：? ? ?被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結(jié)構(gòu)，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內(nèi)層電子在足夠能量的X射線