臺式X熒光光譜儀四種常用故障解決詳解

    現(xiàn)在的臺式X熒光光譜儀基本都裝有故障診斷軟件,分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態(tài)信號傳輸?shù)接?jì)算機(jī),供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常,找到產(chǎn)生故障的部位。但是依然會存在一些問題光靠軟件是不能診斷的,這就要求維修人員對儀器的結(jié)構(gòu)比較熟悉,且具有一定的維修經(jīng)驗(yàn)。今天創(chuàng)想小編來給大家介紹下比較常見的4種常見故障的產(chǎn)生原因及處理方法。

    01故障現(xiàn)象:光譜室和樣品室的真空抽不到規(guī)定值

    故障分析:

    X射線熒光光譜分析通常在真空光路條件下工作,但光譜室和樣品室有很多部位與外部相連,可能漏氣的部位很多。檢查真空故障時,將可能出問題的地方人為分隔為三部分:真空泵、樣品室、光譜室,對這三部分逐一檢查以縮小范圍。

    1.1真空泵

    將真空泵與光譜室和樣品室的接口拆下并用橡皮塞堵住,然后抽真空,如果能在幾秒鐘內(nèi)抽到規(guī)定值,可以排除真空泵出現(xiàn)故障的可能性。如果能抽到規(guī)定值但時間較長,可能是真空泵的效率降低,這種情況一般發(fā)生在經(jīng)常分析壓片樣品和油品的儀器上,粉末或油被吸到真空泵油中,改變了油的粘度,這時需更換真空泵油。

    1.2樣品室

    樣品室常見的漏氣部位是樣品自轉(zhuǎn)裝置上的密封圈,樣品測量時通常以0.5轉(zhuǎn)/秒的速度自轉(zhuǎn),儀器幾年運(yùn)行下來,樣品自轉(zhuǎn)處的密封圈磨損,密封效果變差。

    1.3光譜室

    光譜室常見的漏氣部位是流氣計(jì)數(shù)器,流氣計(jì)數(shù)器安裝在光譜室內(nèi),有一根入氣管和一根出氣管與外界相通,流氣計(jì)數(shù)器的窗膜很薄,窗膜漏氣,就會影響光譜室真空。檢查方法:將入氣管和出氣管用一根軟管連接,使流氣計(jì)數(shù)器與外界隔絕,然后抽真空。

    檢查真空故障,在拆卸和安裝時,要小心操作,不要讓灰或頭發(fā)掉到密封圈上,以避免產(chǎn)生新的漏氣點(diǎn),安裝時可以在密封部位涂一點(diǎn)真空油脂。

    02、故障現(xiàn)象:計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定

    故障分析:

    X熒光光譜儀的常用探測器有二個:流氣計(jì)數(shù)器和閃爍計(jì)數(shù)器。閃爍計(jì)數(shù)器很穩(wěn)定,問題常出現(xiàn)在流氣計(jì)數(shù)器上。

    流氣計(jì)數(shù)器窗膜由一塊聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜鍍上一層很薄(約30nm)的鋁膜所構(gòu)成,由于窗膜承受大氣壓力,一段時間后隨著基體材料的延展,鋁膜可能產(chǎn)生裂紋,從而減弱導(dǎo)電性能,這種情況對脈沖高度分布影響不大,但會使計(jì)數(shù)率不穩(wěn)定。新型號的X熒光光譜儀一般都安裝1μm甚至0.6μm的窗膜,而不再使用6μm的窗膜,因此流氣計(jì)數(shù)器的窗膜導(dǎo)電性能下降的可能性增大。

    檢查方法:在低X射線光管功率情況下,選一個KKα計(jì)數(shù)率約2000CPS的樣品,測定計(jì)數(shù)率,然后用一個鉀含量高的樣品取代原樣品,將光管調(diào)到滿功率,保持2分鐘,再將X射線光管功率減至原值,測量樣品,如窗膜導(dǎo)電正常,將得到原計(jì)數(shù)率,如窗膜導(dǎo)電性能變差,會發(fā)現(xiàn)計(jì)數(shù)率減小,然后慢慢回升至初始值,這時就應(yīng)調(diào)換窗膜。

    03、故障現(xiàn)象:2θ掃描時,發(fā)現(xiàn)峰形不光滑,有小鋸齒狀

    故障分析:

    晶體是儀器內(nèi)脆弱的部件,盡量不要用手接觸衍射面,如果手或其他東西碰到了晶體的衍射面,就會污染晶體,手上的汗或其他物質(zhì)滲到晶體的表面,使晶體表面的晶格間距發(fā)生變化,而X射線熒光的衍射主要發(fā)生在晶體的表面,因此造成2θ掃描的峰形不光滑。這種故障一時很難消除,有文獻(xiàn)介紹了晶體的表面處理方法,但一般清洗不干凈。

    04、故障現(xiàn)象:2θ掃描時只出現(xiàn)噪聲信號,沒有峰位信號

    故障分析:

    可能的原因有二個:

    4.1探測器的前置放大電路出現(xiàn)故障,出現(xiàn)的噪聲信號為電路噪聲,不是X射線信號。

    4.2測角儀的θ和2θ耦合關(guān)系發(fā)生混亂,通常是控制θ和2θ耦合關(guān)系的CMOS中的數(shù)據(jù)由于電池漏電等原因丟失,這時需要重新對光。

    創(chuàng)想臺式X熒光光譜儀


    無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司專注于光譜儀,直讀光譜儀,光譜分析儀等

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    詞條說明

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