天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀

時(shí)間：2024-09-10作者：江蘇天瑞儀器股份有限公司瀏覽：3

天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀詳細(xì)資料介紹，

天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀型號(hào)和報(bào)價(jià)請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司生產(chǎn)銷售的天瑞儀器xrf熒光光譜分析儀edx1800b測試設(shè)備，針對(duì)EDX 1800B在各個(gè)領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)的需求，特別設(shè)計(jì)該款EDX 1800E。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。應(yīng)用領(lǐng)域包括：

RoHS檢測分析；地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析；金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電子行業(yè)。









性能優(yōu)勢
下照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測試點(diǎn)
高分辨率探測器：提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)較高的測試效率
檢測75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的輻射水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)較高的測試效率
儀器上蓋的測試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您*防護(hù)技術(shù)參數(shù)


元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U）
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍：15℃ ~ 30℃
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg





江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于rohs檢測儀,x射線熒光光譜儀,x射線熒光鍍層測厚儀等, 歡迎致電 13814856624

• 詞條

  詞條說明

• X射線熒光光譜儀技術(shù)原理

  X射線熒光光譜儀另一方面，化學(xué)元素遭到高能光子或粒子的照耀，如內(nèi)層電子被激起，則當(dāng)外層電子躍遷時(shí)，就會(huì)放射出特征X射線。特征X射線是一種別離的不延續(xù)譜。假如激起光源為x射線，則受激發(fā)生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀發(fā)生的進(jìn)程。當(dāng)人射x射線撞擊原子中的電子時(shí)，如光子能量大于原子中的電子約束能，電子就會(huì)被擊出。這一互相效果進(jìn)程被稱為光電效應(yīng)，被打出的電子稱為光電子

• 手持XRF分析儀

  手持XRF分析儀是元素快速分析的好幫手，滿足合金，礦石，土壤重金屬，rohs，鍍層等各個(gè)領(lǐng)域的便攜測試分析，連接便攜藍(lán)牙打印設(shè)備，可以現(xiàn)場出具測試報(bào)告。手持XRF分析儀光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢**大樣品測試當(dāng)樣品體積太大，且不能切割取樣時(shí)，普通臺(tái)式儀器無法對(duì)其進(jìn)行RoHS等有害元素的有效測試，此時(shí)手持XRF分析儀則可大顯神通，直接對(duì)其表面進(jìn)行測試，使用較方便快捷，大大提高了檢測效率。玩具樣品測試玩其樣品多

• rohs檢測儀有哪些性能

  RoHS檢測儀就是歐盟RoHS測試標(biāo)準(zhǔn)的檢測儀器。簡單的說就是測試鉛Pb，鎘Cd，汞Hg，六價(jià)鉻Cr6+，多溴二苯醚PBDE，多溴聯(lián)苯PBB六種有害物質(zhì)的儀器。rohs檢測儀性能半導(dǎo)體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷自動(dòng)濾光片選擇多種準(zhǔn)直器自動(dòng)自由切換三重安全保護(hù)模式相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序樣品腔自動(dòng)開關(guān)軟件定位樣品平臺(tái)，較小位移0.01mm自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，分別針對(duì)不同樣

• X熒光光譜鍍層測厚儀

  X熒光光譜鍍層測厚儀既滿足原有微小和復(fù)雜形態(tài)樣品的膜厚檢測功能,又可滿足有害元素檢測及輕元素成分分析,被廣泛應(yīng)用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測量。X熒光光譜鍍層測厚儀配置01 獨(dú)立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)02 微焦斑X光管?03 可變高壓電源04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)05 Fast-SDD探測器06 雙激光定位裝置07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直