優(yōu)爾鴻信檢測(cè)|汽車裝飾條鹽霧麻點(diǎn)不良分析

時(shí)間：2024-12-27作者：優(yōu)爾鴻信檢測(cè)技術(shù)(深圳)有限公司瀏覽：50

1.背景:

某汽車公司產(chǎn)前抽檢供貨商提供的部份汽車鍍鉻裝飾條進(jìn)行CASS測(cè)試，結(jié)果NG。3月9日送檢部份NG樣品

至我處，希望實(shí)驗(yàn)室協(xié)助分析不良原因。NG樣品具體表現(xiàn)為產(chǎn)品表面出現(xiàn)大量麻點(diǎn)缺陷，以3D輪廓掃描發(fā)

現(xiàn)麻點(diǎn)為底部較平的小坑，如圖所示。




2.實(shí)驗(yàn)方案:

2.1 取樣類型
CASS測(cè)試NG的汽車鍍鉻裝飾條
2.2 工藝制程
MPCrT3-a1 (塑膠底材/銅層/多層鍍鎳/鉻層)
2.3 分析方案
?表面3D輪廓分析: 以3D光學(xué)干涉儀掃描樣品表面形貌；
?表面麻點(diǎn)分佈觀察:以3D顯微鏡觀察樣品表面麻點(diǎn)分布狀況；
?表面形貌觀察及成分鑒定:
a.以金相顯微鏡觀察麻點(diǎn)表面形貌，并測(cè)量麻點(diǎn)尺寸；
b.以X-Ray膜厚儀測(cè)量表面鍍層Cr的厚度；
c.以SU1510 SEM+EDS觀察麻點(diǎn)區(qū)域的表面形貌，并鑒定其成分；
?截面形貌觀察及成分鑒定:
a.以金相顯微鏡測(cè)量鍍層Ni層、Cu層的厚度；

b.以SU1510 SEM+EDS觀察麻點(diǎn)區(qū)域的鍍層形貌，并鑒定其成分。

3.實(shí)驗(yàn)結(jié)果:

3.1 表面3D輪廓掃描：以3D光學(xué)干涉儀測(cè)試表面麻點(diǎn)形態(tài)深度。




所測(cè)定的麻點(diǎn)的深度均在9μm以上，且坑的形狀規(guī)則，近似圓形 。

3.2表面麻點(diǎn)分佈觀察：以KEYENCE 3D顯微鏡在30倍下觀察目視OK區(qū)域和目視麻點(diǎn)區(qū)域形態(tài)與分布。




目視OK區(qū)域的也存在輕微腐蝕，但麻點(diǎn)數(shù)量遠(yuǎn)大于腐蝕嚴(yán)重區(qū)域麻點(diǎn)數(shù)量，說明樣品存在鍍鉻微孔分佈不均的現(xiàn)象；
3.3表面形貌觀察（OM）：以ZEISS金相顯微鏡分別在50倍與200倍下觀察麻點(diǎn)形態(tài)并測(cè)量其尺寸。




麻點(diǎn)形狀規(guī)則，部份坑底有片狀殘留物，顏色與表面鉻層一致，懷疑為鉻層殘留；麻點(diǎn)大小不均，較大的直徑約250μm。
3.4 表面形貌觀察(SEM+EDS)：以SU1510電子顯微鏡在高倍下觀察麻點(diǎn)形態(tài)并測(cè)定麻點(diǎn)區(qū)域化學(xué)成份。




坑內(nèi)片狀殘留物成份與樣品表面Cr層一致，在凹坑邊緣處有Cr層向內(nèi)塌陷；
坑底主要元素為鎳元素，表明腐蝕尚未至Cu層；
坑內(nèi)發(fā)現(xiàn)Cl、S、Cu元素，推測(cè)為鹽霧腐蝕液殘留元素。

3.5 鍍層膜厚測(cè)試(X-Ray、OM)：以ZEISS金相顯微鏡在500倍下測(cè)量銅層與鎳層厚度，以Fischer X-Ray膜厚儀測(cè)試鉻層厚度。




腐蝕坑底部平整，鎳層腐蝕為橫向發(fā)展；規(guī)格要求鉻層厚度大于0.3μm，鎳層厚度大于25μm，測(cè)試結(jié)果表明Cr層與Ni層厚度

與規(guī)格相比均偏?。?/p>

3.6 截面形貌觀察(SEM+EDS)：以SU1510電子顯微鏡在背散射模式下觀察樣品截面形貌，并測(cè)定鍍層成份。




結(jié)果表明鎳層分為兩層，外層鎳中發(fā)現(xiàn)S元素，與光亮鎳特征一致；

4.分析與討論:

1. 該裝飾條采用常見的雙層鎳與微孔鉻的鍍層體系，是一種高耐腐蝕性的防護(hù)-裝飾體系。雙層鎳是由外層的光亮鎳和內(nèi)層的半

光亮鎳構(gòu)成，兩層之間的電位不同，在腐蝕環(huán)境中，光亮鎳作為陽(yáng)極**被腐蝕，使腐蝕過程中，腐蝕由穿透型發(fā)展變?yōu)闄M向發(fā)展；

2. 鍍微孔鉻優(yōu)勢(shì)在于：鉻層上大量不連續(xù)的微孔消除了大部分鉻層中的內(nèi)應(yīng)力，而且在腐蝕環(huán)境中，鎳與鉻組成腐蝕電池，微孔處

的鎳層為陽(yáng)極而遭受腐蝕。若鉻層表面微孔分布不均，將導(dǎo)致大陰極小陽(yáng)極的腐蝕模式，引起鎳表面積上局部腐蝕電流過大，造成麻點(diǎn)。

5.結(jié)論與建議:

1. 裝飾條表面麻點(diǎn)形成機(jī)理：鍍鉻層微孔下光亮鎳被橫向腐蝕，表層鉻下方空虛，鉻層塌落造成麻點(diǎn)；
2. 本次NG樣品在CASS腐蝕環(huán)境中產(chǎn)生麻點(diǎn)的原因可能是：
 a.鍍鉻層表面微孔分布不均，CASS試驗(yàn)時(shí)造成局部腐蝕電流過大，光亮鎳層過度消耗，形成麻點(diǎn);
 b.鍍鎳層厚度偏小，導(dǎo)致產(chǎn)品整體防腐蝕性能下降。
3. 建議供貨商改善電鍍工藝，嚴(yán)格控制鉻層微孔數(shù)量及分布狀態(tài)，以提高其耐腐蝕性能。



























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