AECQ芯片剪切強度測試，推拉力測試機應用匯總！

時間：2024-02-28

近，小編收到不少電子行業(yè)客戶的咨詢，AECQ中的芯片剪切強度測試如何做？該用什么樣的設備？為了解決客戶的測試需求，科準測控專門為其設計了一套的測試方案，包括儀器和試驗方法。

在現代汽車電子領域，車載元器件的性對整車的性能和性至關重要。為確保車載電子元器件在各種端條件下都能穩(wěn)定運行，對其封裝質量進行而細致的測試顯得尤為重要。在這一系列的測試方法中，芯片剪切強度測試無疑是一個至關重要的環(huán)節(jié)。

芯片剪切強度試驗的主要目的在于評估芯片與底座之間的附著強度，以綜合評價芯片安裝在底座上所采用的材料和工藝步驟的性。這一測試方法直接關系到芯片封裝的質量，并通過測量剪切力的大小來判斷其是否符合設計要求。同時，通過分析芯片剪切時的失效位置和失效模式，及時發(fā)現并糾正在芯片封裝過程中可能發(fā)生的問題。

一、測試相關標準

GJB 548B、JIS Z 3198-7

二、常用設備

推拉力測試機

這設備可施加負載，將力均勻施加到芯片的一條邊上，逐漸增加推力，導致芯片平行推移。觀察芯片是否能抵御施加的剪切力，通過剪切強度的大小評估芯片封裝的牢固性。

三、試驗方法

1、設備準備：準備一臺能夠施加負載的儀器（推拉力測試機）。

2、樣品安裝：將待測試的芯片樣品安裝在測試儀器上，確保位置準確。

3、負載施加：啟動儀器，使其施加均勻的負載到芯片的一個邊緣。

4、逐漸增力：逐漸增加施加力的大小，模擬剪切力的遞增過程。

5、觀察推移：在施加力的同時觀察芯片是否能夠承受剪切力，記錄任何異?，F象。

6、剪切強度測量：在達到設定的力值或觀察到芯片推移時，記錄此時的剪切力大小。

7、數據分析：分析所得數據，評估芯片封裝的牢固性，包括剪切強度的大小和可能的失效模式。

8、結果解釋：根據測試結果，判斷芯片封裝是否符合設計要求，是否需要調整工藝或材料。

9、報告生成：生成，包括測試條件、、剪切強度數值以及任何需要注意的問題。

四、失效判定依據

失效判定依據（參考GJB 548B）：

任何器件若不符合以下任一條件均被視為失效：

A. 未達到圖中1.0倍曲線所規(guī)定的芯片強度要求；

B. 在芯片與底座脫離時，所施加的力小于圖中1.0倍曲線標定的小強度的1.25倍，并且底座上留有芯片附著材料痕跡的區(qū)域小于附著區(qū)域面積的50%；

C. 在芯片與底座脫離時，所施加的力小于圖中1.0倍曲線標定的小強度的2.0倍，并且底座上留有芯片附著材料痕跡的區(qū)域小于附著區(qū)域面積的10%。

總結

多功能焊接強測試儀（推拉力測試機）是專為微電子引線鍵合后的焊接強度、焊點與基板粘接力測試及失效分析領域設計的動態(tài)測試儀器?？蛇M行晶片推力、金球推力、金線拉力等常見測試，采用高速力值采集系統(tǒng)。根據測試需求換測試模組，系統(tǒng)自動識別模組量程，靈活適用于不同產品測試。每工位可立設置高度及限速，預防誤操作損壞測試。具有、準確、廣泛適用的特點，適用于半導體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、PCBA電子組裝測試、汽車電子、航空、等領域。也適用于各種電子分析、失效分析及院校教學研究。

以上就是小編介紹的AECQ中芯片剪切強度測試的內容了，希望可以給大家?guī)韼椭?！如果您還想了解多關于芯片剪切強度測試設備、計算公式、剪切力強度標準，推拉力測試機狗證、設備和廠家等問題，歡迎您關注我們，也可以給我們私信和留言，科準測控技術團隊為您解答！

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