鹽霧測(cè)試公司解析為什么要做鹽霧試驗(yàn)？

時(shí)間：2019-08-03作者：廣東蘇試廣博測(cè)試技術(shù)有限公司瀏覽：216

　　根據(jù)鹽霧測(cè)試機(jī)構(gòu)的分析，做鹽霧測(cè)試的目的是為了考核產(chǎn)品或金屬材料的耐鹽霧腐蝕質(zhì)量，而鹽霧試驗(yàn)結(jié)果判定正是對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的宣判，它的判定結(jié)果是否正確合理，是正確衡量產(chǎn)品或金屬抗鹽霧腐蝕質(zhì)量的關(guān)鍵。

　　鹽霧測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)鹽霧試驗(yàn)條件，如溫度、濕度、氯化鈉溶液濃度和PH值等做的明確具體規(guī)定，另外還對(duì)鹽霧試驗(yàn)箱性能提出技術(shù)要求。同種產(chǎn)品采用哪種鹽霧試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)要根據(jù)鹽霧試驗(yàn)的特性和金屬的腐蝕速度及對(duì)鹽霧的敏感程度選擇。

　　鹽霧測(cè)試可用于汽車(chē)零部件、汽車(chē)電子電氣、電工電子產(chǎn)品及其電子部件、印制電路板組件、家用電器、電動(dòng)工具、船用/漁用設(shè)備、照明電器、信息技術(shù)設(shè)備、音視頻設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備、玩具、無(wú)線產(chǎn)品、電源設(shè)備、電纜橋架、電器附件等。

　　蘇試廣博是一個(gè)從事電工電子產(chǎn)品與*設(shè)備、軌道交通、核電站設(shè)備、電力（含風(fēng)力發(fā)電）設(shè)備、汽車(chē)、家電、運(yùn)輸包裝件等領(lǐng)域產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性檢測(cè)綜合實(shí)驗(yàn)室,是獨(dú)立于承制方和使用方之外的第三方的實(shí)驗(yàn)室。對(duì)實(shí)驗(yàn)室的工作，一定要加強(qiáng)**，嚴(yán)格要求，認(rèn)真落實(shí)該實(shí)驗(yàn)室《質(zhì)量手冊(cè)》和《程序文件》規(guī)定的各項(xiàng)條款，不斷提高服務(wù)質(zhì)量，爭(zhēng)取委托方的高滿意度。


廣東蘇試廣博測(cè)試技術(shù)有限公司專(zhuān)注于質(zhì)量檢測(cè)及認(rèn)證,測(cè)試技術(shù)咨詢(xún),試驗(yàn)工裝夾具等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• 可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心闡述可靠性試驗(yàn)的分類(lèi)

  根據(jù)可靠性試驗(yàn)檢測(cè)中心的闡述，可靠性試驗(yàn)分類(lèi)有下述內(nèi)容： 1.按試驗(yàn)的用途可以分為：可靠性摸底試驗(yàn)、可靠性增長(zhǎng)試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)和可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)，以及可靠性篩選試驗(yàn)、可靠性老化試驗(yàn)、可靠性環(huán)境試驗(yàn)、可靠性失效分析試驗(yàn)等 2.按統(tǒng)計(jì)方法，可以分為：定時(shí)截尾試驗(yàn)、定數(shù)截尾試驗(yàn)、序貫試驗(yàn) 蘇試廣博是一個(gè)從事電工電子產(chǎn)品與*設(shè)備、軌道交通、核電站設(shè)備、電力（含風(fēng)力發(fā)電）設(shè)備、汽車(chē)、家電、運(yùn)輸包裝件等

• 環(huán)境可靠性測(cè)試淺談高低溫試驗(yàn)

  1.高溫試驗(yàn) 1.2 高溫試驗(yàn)概念： 此試驗(yàn)中試件處于高溫空氣中，但不受到陽(yáng)光直接照射。高溫試驗(yàn)針對(duì)高溫季節(jié)在室內(nèi)或密閉空間中或接近發(fā)動(dòng)機(jī)等熱源處儲(chǔ)藏或使用產(chǎn)品的情形。僅當(dāng)太陽(yáng)輻射試驗(yàn)不能檢驗(yàn)高溫效應(yīng)時(shí)才進(jìn)行這項(xiàng)試驗(yàn)。高溫試驗(yàn)的目的是檢驗(yàn)在高溫環(huán)境中儲(chǔ)藏或使用的性能。高溫試驗(yàn)的目的是確定軍民用設(shè)備在常溫條件下儲(chǔ)存和工作的適應(yīng)性。 1.2高溫試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)： GB/T 2423.2，IEC 6006

• 東莞第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)淺談電子元器件可靠性檢測(cè)項(xiàng)目

  物理特性測(cè)試項(xiàng)目 1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無(wú)源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線

• 環(huán)境可靠性試驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)淺析恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品滿足的試驗(yàn)條件及標(biāo)準(zhǔn)

  恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品滿足試驗(yàn)條件及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) 5.1GB2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A低溫 5.2GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫 5.3GJB150.3A－2009高溫試驗(yàn)方法 5.4GJB150.4A－2009低溫試驗(yàn)方法 5.5GB2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)*2