推薦一款新的應(yīng)用于大電流的小間距微針模組

時間：2019-07-10作者：深圳市鴻怡電子有限公司瀏覽：53

目前市場上手機(jī)，平板電腦的應(yīng)用如此廣泛，各類電池的需求量也是巨大。

而針對電池的測試，據(jù)了解，目前各大自動化設(shè)備廠商和電池生產(chǎn)廠家均還是是采用傳統(tǒng)的連接器公母座對扣的方式。這種做法雖然板子成本低，但是使用的次數(shù)只有幾十次。在測試中會有以下問題，首先測試效率低下，其次，使用壽命短，只有50次左右。再次，測試中會對電池的FPC connector有損傷，而且會有誤測現(xiàn)象，從而導(dǎo)致不良品通過測試。不僅生產(chǎn)效率低，良率較低。從而給生產(chǎn)廠家?guī)硪欢ǖ穆闊?

當(dāng)前，電池/電源類產(chǎn)品測試的難點在于，電流過大。至少在18-40A左右，而傳統(tǒng)的探針測試治具，因為探針可過電流至多只能達(dá)2A。所以就沒有辦法用探針治具來進(jìn)行測試。

基于此，鴻怡電子的大電流彈片微針模組就可以很好的幫客戶解決這方面的問題。電池電流檢測時可以過電流較高達(dá)40A。大大幫客戶提高測試良率的同時，測試壽命較長、較不易損件器件。


電池/電源類連接采用微小型大電流BTB連接器，在BTB連接器較小的空間內(nèi)包含了電源及數(shù)據(jù)監(jiān)測等功能用PIN腳。較支持BTB系列模組的不同間距組合。


深圳市鴻怡電子有限公司專注于IC插座/連接器,EMMC測試燒錄座,TSOP48老化座,卡座,QFN燒錄老化座,SOP燒錄老化座端子板等

• 詞條

  詞條說明

• 芯片測試座的結(jié)構(gòu)、用途和特性

  芯片測試座，又稱IC socket，芯片測試座是一種用于測試集成電路芯片的工具，它使用一種特殊的結(jié)構(gòu)，將芯片的各個端口連接到外部的測試設(shè)備。 芯片測試座的主要作用是幫助設(shè)計人員在設(shè)計集成電路時，能夠快速、準(zhǔn)確地測試其芯片的性能。 芯片測試座的定義可以從三個方面來看：結(jié)構(gòu)、用途和特性。 首先，芯片測試座的結(jié)構(gòu)指的是芯片測試座的組成結(jié)構(gòu)，一般由底座、支架、端子座等部件組成。 其次，芯片測試座的用途是

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• 鋰電池測試中，優(yōu)選彈片微針模組

  在針對鋰電池連接器的測試上，大電流彈片微針模組受到了越來越多客戶的關(guān)注以及**。原因無他，較高的耐電流能力，以及較小的測試阻抗，都是鴻怡電子的大電流彈片微針模組讓客戶信賴的閃光點。 為何探針無法制作成大電流微針模組？較主要的原因在于尺寸與電阻。小尺寸的探針電阻大，可過電流范圍小，而大尺寸的探針過流范圍變大，但由于尺寸變大了，無法適應(yīng)小pitch值，故無法制作成微針模組。而由鴻怡電子研發(fā)的大電流BT