鍍層厚度分析儀使用注意事項


    江蘇一六儀器有限公司專注于測厚儀,標準片等

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  • 麗水鍍層測厚儀行業(yè)專家在線為您服務(wù) 江蘇一六儀器有限公司

    江蘇一六儀器有限公司 專業(yè)鍍層測厚檢測 歡迎來電詳詢! X射線熒光光譜分析可以非破壞性同時完成組分和厚度測試,厚度的測量范圍視材料和元素而定,通常在1nm-50um之間。X射線熒光光譜法分析鍍層與其常規(guī)定量分析法相比較,被測元素的特征X射線熒光強度不僅與鍍層中待測元素和基材的組成有關(guān),而且與厚度直接相關(guān)。能量色散X射線熒光光譜分析相對其他分析方法,具有*對樣品進行特別的化學處理、快速,方便,測

  • 一六儀器應(yīng)邀參加2019廣州國際表面處理展

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    江蘇一六儀器有限公司是一家專注于光譜分析儀器研發(fā)、生產(chǎn)、銷售的**企業(yè)。公司位于上海和蘇州中間的昆山市城北高新區(qū)。我們專業(yè)的研發(fā)團隊具備十年以上的從業(yè)經(jīng)驗,經(jīng)與海內(nèi)外多名*通力合作,研究開發(fā)出一系列能量色散X熒光光譜儀 一六儀器 X熒光光譜測厚儀 鍍層分析X射線熒光光譜特點 1.鍍層分析快速、無損,對樣品*任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10S-1分鐘,分析精度高。 2.可測試**薄的鍍層

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