超聲波探傷儀是應(yīng)用超聲能透入金屬資料的深處,并由一截面進(jìn)入另一截面時(shí),在界面邊緣發(fā)作反射的特點(diǎn)來(lái)反省零件缺陷的一種辦法,當(dāng)超聲波束自零件外表由探頭通至金屬內(nèi)部,碰到缺陷與零件底面時(shí)就辨別發(fā)作反射波來(lái),在熒光屏上構(gòu)成脈沖波形,依據(jù)這些脈沖波形來(lái)判別缺陷地位和巨細(xì)。
應(yīng)用資料及其缺陷的聲學(xué)功能差別對(duì)超聲波傳達(dá)的影響來(lái)查驗(yàn)資料內(nèi)部缺陷的無(wú)損查驗(yàn)辦法。目前普遍采用的是觀測(cè)聲脈沖在資料中反射狀況的超聲脈沖反射法,此外還有觀測(cè)穿過(guò)資料后的入射聲波振幅轉(zhuǎn)變的穿透法等。常用的頻率在0.5~5MHz之間。
常用的查驗(yàn)儀器為 A型顯示脈沖反射式超聲波探傷儀。依據(jù)儀器示波屏上反射旌旗燈號(hào)的有無(wú)、反射旌旗燈號(hào)和入射旌旗燈號(hào)的工夫距離、反射旌旗燈號(hào)的高度,可確定反射面的有無(wú)、其地點(diǎn)地位及相對(duì)巨細(xì)。
超聲波在介質(zhì)中傳達(dá)時(shí)有多種波型,查驗(yàn)中較常用的為縱波、橫波、外表波和板波。用縱波可探測(cè)金屬鑄錠、坯料、中厚板、大型鍛件和外形比擬簡(jiǎn)略的制件中所存在的攙雜物、裂痕、縮管、白點(diǎn)、分層等缺陷;用橫波可探測(cè)管材中的周向和軸向裂痕、劃傷、焊縫中的氣孔、夾渣、裂痕、未焊透等缺陷;用外表波可探測(cè)外形簡(jiǎn)略的制件上的外表缺陷;用板波可探測(cè)薄板中的缺陷。
檢測(cè)局限1.0~15000mm 檢測(cè)分辯率 0.01mm(<100mm);1mm(>100mm)
其特點(diǎn)是:現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè),分量輕 大型鑄件的現(xiàn)場(chǎng)探傷,內(nèi)部缺陷分層。 波形輸出。
點(diǎn)狀非金屬夾雜物 缺陷波波峰較圓,而波幅較低且遲鈍,當(dāng)超聲波探傷儀探頭位置移動(dòng)不大時(shí),缺陷波很快消失。
聚積非金屬夾雜物 缺陷波呈連串的波峰,波幅一般較弱,其波形間有一二個(gè)較高的缺陷波。當(dāng)移動(dòng)探頭時(shí),缺陷波在一定寬度范圍內(nèi)變化,波峰此起彼落,波形顯得混淆雜亂、遲鈍、幾個(gè)缺陷波峰值相混為一,呈圓球狀或鋸齒狀,左右滾動(dòng)。探傷時(shí)缺陷分部越密則波形越亂。當(dāng)降低探測(cè)靈敏度時(shí),只有個(gè)別較高的缺陷波出現(xiàn),而波幅下降,底波無(wú)明顯的變化。
疏松 疏松對(duì)聲波有吸收和散射作用,故使底波明顯降低甚至消失,疏松嚴(yán)重時(shí),無(wú)缺陷波,當(dāng)探頭移動(dòng)時(shí),間或出現(xiàn)波峰很低的蠕動(dòng)波形。當(dāng)提高探測(cè)靈敏度時(shí),會(huì)出現(xiàn)一些微弱而雜亂的波形,但無(wú)底波。
縮孔 缺陷波高大,在缺陷波的前后尚有些微弱的反射波,當(dāng)缺陷較大時(shí),底波嚴(yán)重衰減或消失,多個(gè)方向探測(cè)均能得到缺陷波。
白點(diǎn) 缺陷波呈叢集狀,數(shù)個(gè)波同時(shí)呈現(xiàn),波峰清晰、尖銳有力,有重復(fù)呈現(xiàn)的傾向,當(dāng)探頭移動(dòng)時(shí),缺陷波變化*而敏感,若降低探測(cè)林敏度時(shí),缺陷波仍然很高。白點(diǎn)面積較大或密集時(shí),底波顯著降低,如從各個(gè)方向探測(cè)均能得到缺陷波。
中心鍛造裂紋 探頭移動(dòng)時(shí),缺陷波幅變化很大(有時(shí)很強(qiáng)有時(shí)很弱),且在熒光屏上移動(dòng),底波往往消失。
殘余縮孔性裂紋 缺陷波幅強(qiáng),常出現(xiàn)于工件中部,沿軸向探測(cè)時(shí),缺陷波連續(xù)不斷的出現(xiàn),缺陷嚴(yán)重時(shí),底波顯著降低或消失。
夾雜性裂紋 這種缺陷和夾雜物混雜在一起,探測(cè)時(shí)難以和夾雜物波形區(qū)別,當(dāng)夾雜物嚴(yán)重或存在較大的單個(gè)夾雜物時(shí),應(yīng)考慮這種缺陷產(chǎn)生的可能。
氣孔 缺陷波形尖銳、陡峭、波根清晰,當(dāng)探頭繞缺陷移動(dòng)時(shí),均有缺陷波出現(xiàn),當(dāng)超聲波探頭沿焊縫水平轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),單個(gè)氣孔及針狀氣孔的缺陷波很快消失,連續(xù)氣孔則連續(xù)不斷的出現(xiàn)缺陷波,密集氣孔氣孔則出現(xiàn)數(shù)個(gè)此起彼落的缺陷波。當(dāng)探頭垂直焊縫移動(dòng)時(shí),除針狀氣孔外,缺陷波均很快消失。
夾渣 夾渣為非金屬夾雜物,對(duì)聲波吸收大,在相同條件下探測(cè)時(shí),其缺陷波幅比其它缺陷(氣孔、未焊透)波低、波根較寬,有時(shí)呈樹(shù)枝狀,探頭平行移動(dòng)時(shí),條狀?yuàn)A渣的缺陷波會(huì)連續(xù)出現(xiàn)。探頭做環(huán)繞移動(dòng)時(shí),條狀?yuàn)A渣缺陷波消失快,而塊狀?yuàn)A渣在較大的范圍內(nèi)都有缺陷波,且在不同方向探測(cè)時(shí),能獲得不同形狀的缺陷波。
未焊透 缺陷波形與氣孔波形大致相同,缺陷波高。不同的是當(dāng)探頭沿焊縫平行移動(dòng)時(shí),在較大范圍內(nèi),連續(xù)出現(xiàn)缺陷波且在熒光屏的同一位置上(當(dāng)未焊透深淺不一時(shí),亦稍有變化),且幅度變化不大。探頭沿焊縫垂直移動(dòng)時(shí),缺陷波消失的快慢取決于未焊透的深度。探頭做環(huán)繞移動(dòng)時(shí),缺陷波降低或最后消失。
未熔合 未熔合多出現(xiàn)在母材與焊縫的交界處。其波形和波形的變化基本上與未焊透相似。
裂縫(焊縫中)當(dāng)波束與裂紋垂直時(shí),缺陷波形明顯、尖銳、波峰陡峭。探頭平行移動(dòng)時(shí),但波形在熒光屏上的位置隨裂紋方向、曲折程度而變,探頭移動(dòng)到一定距離后,才逐漸減幅,直至消失。
詞條
詞條說(shuō)明
江西XF-TM250超聲波測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
TM250 型超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理而研制的新型智能化測(cè)厚儀。該儀器采用單片微處理器來(lái)進(jìn)行非線性校準(zhǔn)和自動(dòng)零位校準(zhǔn),在功能和技術(shù)性能方面比一般超聲波測(cè)厚儀有較大突破,因而應(yīng)用范圍廣泛,使用方便,測(cè)量較準(zhǔn)確。專為厚度檢驗(yàn)方面的應(yīng)用而設(shè)計(jì)的上、下限報(bào)警功能將給使用者帶來(lái)較大的便利。 對(duì)于能傳播超聲波的材料均可以使用本儀器測(cè)厚。如:金屬、陶瓷、塑料、玻璃等。本儀器適用于石化工業(yè)、造船業(yè)、
UTS2030頻譜分析儀技術(shù)指標(biāo) 型號(hào) UTS2030 頻率 頻率范圍 9kHz至3GHz 頻率分辨率 1Hz 頻率讀數(shù)精度 ±(頻標(biāo)讀數(shù)×頻率基準(zhǔn)精度+1%×掃寬+10%×RBW+0.5×[掃寬/(掃描點(diǎn)-1)]+1Hz) 內(nèi)部基準(zhǔn)(10MHz) 老化率: 分辨率帶寬(RBW) 范圍 10Hz至500kHz(以1至10連續(xù)步進(jìn)),1MHz,3MHz 選擇性(60dB/3dB)及精度 RBW≤5
820固定式2路控制器 820型控制器為固定式氣體監(jiān)測(cè)器安裝提供了靈活解決方案,是大量應(yīng)用的理想之選。820型控制器可用于簡(jiǎn)單的本地監(jiān)測(cè)及報(bào)警,也可用于多種網(wǎng)絡(luò)設(shè)備中。 適合工業(yè)及非工業(yè)應(yīng)用,820雙通道模擬控制器可接收一組或兩組來(lái)自任意氣體變送器的4-20 mA輸入信號(hào),并在LED屏上顯示讀數(shù)。820型控制器提供便于用戶操作的界面,輕松實(shí)現(xiàn)配置及參數(shù)(包括報(bào)警值)控制。820型控制器也利用 M
ST652紅外測(cè)溫儀 測(cè)量范圍-32~535℃ 可選擇 ℃ / ℉單位 背光顯示 雷射指示測(cè)量位置 較大值/較小值/平均值/變化值(ST652/653) **率可調(diào)(ST653) 溫度數(shù)據(jù)存儲(chǔ)(ST652/653) 應(yīng)用:電力檢修、空調(diào)、半導(dǎo)體生產(chǎn)加工、電路測(cè)試終端
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯(lián)系人: 黃經(jīng)理
電 話: 0791-85226050
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