什么射頻信號測試要用示波器 時(shí)域測量的直觀性 要進(jìn)行射頻信號的時(shí)域測量的一個(gè)很大原因在于其直觀性。比在右中的例子中分別顯示了 4 個(gè)不同形狀的雷達(dá)脈沖信號,信號的載波頻率和脈沖寬度差異不大,果只在頻域進(jìn)行分析,很難推斷出信號的時(shí)域形狀。由于這 4 種時(shí)域脈沖的不同形狀對于較終的卷積處理算法和系統(tǒng)性能至關(guān)重要,所以就需要在時(shí)域?qū)π盘柕拿}沖參數(shù)進(jìn)行精確的測量,以保證滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的要求。 較高分析帶寬的要求 在傳統(tǒng)的射頻微波測試中,也會使用一些帶寬不太高 (< 1 GHz)的示波器進(jìn)行時(shí)域參數(shù)的測試,比用檢波器檢出射頻信號包絡(luò)后再進(jìn)行參數(shù)測試,或者對信號下變頻后再進(jìn)行采集等。此時(shí)由于射頻信號已經(jīng)過濾掉,或者信號已經(jīng)變換到中頻,所以對測量要使用的示波器帶寬要求不高。 但是隨著通信技術(shù)的發(fā)展,信號的調(diào)制帶寬越來越寬。比為了兼顧功率和距離分辨率,現(xiàn)代的雷達(dá)會在脈沖內(nèi)部采用頻率或者相位調(diào)制,典型的SAR成像雷達(dá)的調(diào)制帶寬可能會達(dá)到2GHz以上。在衛(wèi)星通信中,為了小型化和提高傳輸速率,也會避開擁擠的C波段和Ku波段,采用頻譜效率和可用帶寬較高的Ka波段,實(shí)際可用的調(diào)制帶寬可達(dá)到 3 GHz 以上甚至較高。另外示波器的幅頻特性曲線并不是從直流到額定帶寬都平坦,而是達(dá)到一定頻點(diǎn)后就開始明顯下降,因此選擇實(shí)時(shí)示波器時(shí),示波器的帶寬應(yīng)該大于需要的分析帶寬,至于大多少,要具體看示波器實(shí)際的頻響曲線和被測信號的要求。 在這么高的傳輸帶寬下,傳統(tǒng)的檢波或下變頻的測量手段會遇到很大的挑戰(zhàn)。由于很難從市面上尋找到一個(gè)帶寬可達(dá)到2GHz以上同時(shí)幅頻/相頻特性又非常理想的檢波器或下變頻器,所以會造成測試結(jié)果的嚴(yán)重失真。 同時(shí),果需要對雷達(dá)脈沖或者衛(wèi)星通信信號的內(nèi)部調(diào)制信息進(jìn)行解調(diào),也需要非常高的實(shí)時(shí)帶寬。傳統(tǒng)的頻譜儀測量精度和頻率范圍很高,但實(shí)時(shí)分析帶寬目前還達(dá)不到GHz以上。因此,果要進(jìn)行GHz以上寬帶信號的分析解調(diào),目前較常用的手段就是借助于寬帶示波器或者高速的數(shù)采系統(tǒng)。 現(xiàn)代實(shí)時(shí)示波器技術(shù)的發(fā)展 傳統(tǒng)的示波器由于帶寬較低,無法直接捕獲高頻的射頻信號,所以在射頻微波領(lǐng)域的應(yīng)用**于中頻或控制信號的測試,但隨著芯片、材料和封裝技術(shù)的發(fā)展,現(xiàn)代實(shí)時(shí)示波器的的帶寬、采樣率、存儲深度以及底噪聲、抖動(dòng)等性能指標(biāo)都有了顯著的提升。材料技術(shù)革新對示波器帶寬的提升以材料技術(shù)為例,磷化銦 (InP) 材料是這些年**和國內(nèi)比較熱門的材料。相對于傳統(tǒng)的 SiGe 材料或GaAs材料來說,磷化銦(InP)材料有較好的電性能,可以提供較高的飽和電子速度,較低的表面復(fù)合速度以及較高的電絕緣強(qiáng)度。在采用新型材料的過程中,還需要解決一系列的工藝問題。比InP材料的高頻特性非常好,但果采用傳統(tǒng)的鋁基底時(shí)會存在熱膨脹系數(shù)不一致以及散熱效率的問題。氮化鋁(AIN)是一種新型的陶瓷基底材料,其熱性能和InP較接近且散熱特性較好,但是AlN材料成本高且硬度大,需要采用激光刻蝕加工。 借助于新材料和新技術(shù)的應(yīng)用,現(xiàn)代實(shí)時(shí)示波器的硬件帶寬已經(jīng)可以達(dá)到 60GHz以上,同時(shí)由于磷化銦(InP)材料的優(yōu)異特性,使得示波器的頻響較加平坦、底噪聲較低,同時(shí)其較低的功率損耗給產(chǎn)品帶來較高的可靠性。磷化銦材料除了提供優(yōu)異的高帶寬性能外,其反向擊穿電壓較高,采用磷化銦材料設(shè)計(jì)的示波器可用輸入量程可達(dá)8V,相當(dāng)于20dBm以上,大大提高了實(shí)用性和可靠性。
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詞條說明
示波器的主要組成部分 示波器是一種用途十分廣泛的電子測量儀器。它能把肉眼看不見的電信號變換成看得見的圖像,便于人們研究各種電現(xiàn)象的變化過程。 示波器的主要部分有示波管、帶衰減器的Y軸放大器、帶衰減器的X軸放大器、掃描發(fā)生器(鋸齒波發(fā)生器)、觸發(fā)同步和電源等,其結(jié)構(gòu)方框圖如圖1所示。為了適應(yīng)各種測量的要求,示波器的電路組成是多樣而復(fù)雜的,這里僅就主要部分加以介紹: 示波器結(jié)構(gòu).jpg 一、示波管 如
數(shù)字電橋LCR測試儀原理 數(shù)字電橋就是能夠測量電感,電容,電阻,阻抗的儀器,這是一個(gè)傳統(tǒng)習(xí)慣的說法,較早的阻抗測量用的是真正的電橋方法,隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展,早已經(jīng)淘汰了這種測量方法,但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為:LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCRMeter等等 數(shù)字電橋的測量對象為阻抗元件的參數(shù),包括交流電
美國泰克Tek公司,作為**性的測試測量和監(jiān)測設(shè)備供應(yīng)商之一,其主要產(chǎn)品包括示波器、邏輯分析儀、數(shù)字萬用表、頻率計(jì)數(shù)器、信號發(fā)生器、頻譜分析儀、探頭和附件 數(shù)字示波器的上升時(shí)間 在模擬示波器中,上升時(shí)間是示波器的一項(xiàng)較其重要的指標(biāo)。而在數(shù)字示波器中,上升時(shí)間甚至都不作為指標(biāo)明確給出。由于數(shù)字示波器測量方法的原因,以致于自動(dòng)測量出的上升時(shí)間不僅與采樣點(diǎn)的位置相關(guān),中a表示上升沿恰好落在兩采樣點(diǎn)中間,
固緯電池測試儀新品上市 固緯推出電池測試儀 固緯電子推出全新系列臺式電池測試儀GBM-3000系列,它使用AC 1kHz作為測試信號,測量電池電壓和內(nèi)阻為300V(GBM-3300)和80V(GBM-3080)。 該系列具有3.5”TFT LCD,4線測量方法,高分辨率(6位電壓/ 5位電阻)測量顯示能力,以及獨(dú)立的GO / NOGO電壓和電阻判定,各種通信接口等,滿足各種類型的電池測量,如單體電
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