天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷美國Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201
產(chǎn)品型號:LCC7201
關(guān)鍵字:Thorlabs雙折射顯微鏡成像系統(tǒng)LCC7201
關(guān)鍵字描述:
產(chǎn)品介紹:
平坦樣品中的延遲度和方位角(快速軸方向)的測量
在<15 s內(nèi)測量直徑20mm的視場
包括三個(gè)用于直徑0.5英寸,直徑1英寸和2英寸x 2英寸光學(xué)元件的樣品架
LCC7201雙折射成像系統(tǒng)用于學(xué)術(shù)研究、醫(yī)療診斷、工業(yè)制造和產(chǎn)品質(zhì)量保證,可以測量晶體和液晶設(shè)備等平整的平面樣品的相位延遲和方位角,非常適合檢測由應(yīng)力引起的雙折射特性。由于該系統(tǒng)基于液晶器件,其內(nèi)部沒有相對機(jī)械運(yùn)動(dòng),從而在運(yùn)行過程中非常穩(wěn)定,毫無振動(dòng)干擾。LCC7201工作的波長為633 nm,提供直徑20 mm的視場。該系統(tǒng)所測相位延遲范圍為半波長(max.316 nm),方位角范圍為±90°。此外,還可以定制波長范圍從405 nm到810 nm的工作波長。
參數(shù):
光源波長:633 nm
延遲測量范圍
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:0至316 nm
低延遲范圍:0至100 nm
方位角測量范圍:±90°
延遲測量
精度標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±10 nm
低延遲范圍:<±1 nm
方位角測量精度
標(biāo)準(zhǔn)延遲范圍:<±3°
低延遲范圍:<±1°
測量速率:<15 s
視場:直徑20mm
空間分辨率:9.77μm
接口:USB 2.0和千兆以太網(wǎng)
相機(jī)分辨率:2048 x 2048像素
尺寸:500.0 mm(D)x 360.0 mm(W)x 672.0 mm(H)
重量:26 kg(57.3 lbs)
工作溫度:0至40°C
儲存溫度:-15至65°C
隨附的配件:筆記本電腦,樣品架,雙折射分辨率目標(biāo)(Item R2L2S1B)
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公司名: 天津瑞利光電科技有限公司
聯(lián)系人: 范雪明
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