XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成

時(shí)間：2022-09-28作者：昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行瀏覽：230

XRF鍍層測(cè)厚儀基本原理以組成

XRF指x射線光，是一種識(shí)別樣品中元素類型數(shù)量的專業(yè)技術(shù)。用于認(rèn)證所有電鍍行業(yè)范圍內(nèi)的涂層厚度和成分。其較基本的高質(zhì)量特性，加上快速測(cè)量和緊湊的平臺(tái)儀器設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場(chǎng)分析，及時(shí)得出結(jié)論。
日立X盈光涂層測(cè)厚儀
對(duì)涂層進(jìn)行分析，XRF涂層測(cè)厚儀將此信息轉(zhuǎn)換為薄厚測(cè)量值。在進(jìn)行測(cè)量時(shí)，X射線管產(chǎn)生的高效能量x射線根據(jù)焦距聚集，并直接聚集在樣品特別小的區(qū)域（該區(qū)域的大小是光點(diǎn)規(guī)格）。這種x射線與光點(diǎn)中的元素原子相互作用。以下圖為本事例：
X光線和光點(diǎn)中的元素原子相互影響
這張圖顯示了一個(gè)單原子，其****為淺黃色，新鮮的紅色電子設(shè)備位于軌道上運(yùn)行。當(dāng)進(jìn)行x射線分析時(shí)，**的x射線將把其中一個(gè)內(nèi)部電子設(shè)備趕出軌道。上一級(jí)軌道運(yùn)行電子將立即移動(dòng)，以彌補(bǔ)空化。在這個(gè)過(guò)程中，這個(gè)電子設(shè)備通過(guò)發(fā)送x射線來(lái)釋放電子能量水平之間不必要的動(dòng)能，而探測(cè)器檢測(cè)到的正是這種特性x射線。由于特性x射線能量對(duì)每個(gè)元素都是*一**的，因此儀器設(shè)備可以根據(jù)檢測(cè)到的x射線動(dòng)能告訴每個(gè)人它來(lái)自哪個(gè)元素。檢測(cè)每個(gè)動(dòng)能段的x射線抗壓強(qiáng)度與樣品中的元素含量有關(guān)。這條消息是用來(lái)計(jì)算厚度成分的。
XRF光譜分析儀的重要組成部分
XRFX射線管、焦距、探測(cè)器、對(duì)焦系統(tǒng)、相機(jī)及其樣品臺(tái)是光譜分析儀的重要組成部分。如圖所示。X射線管是設(shè)備的一部分，導(dǎo)致X射線的直射樣品。焦距是裝置的**部分，正確引導(dǎo)X射線偏向樣品。XRF儀器設(shè)備中的焦距將決定光點(diǎn)的規(guī)格。正確的焦距選擇對(duì)于高精度和高測(cè)量效率尤為重要。探測(cè)器和相關(guān)電子產(chǎn)品一起處理從樣品中激發(fā)的射線。
XRF涂層測(cè)厚儀對(duì)焦系統(tǒng)確保X射線管在每次測(cè)量時(shí)，可以測(cè)量零件與探測(cè)器之間的X射線，幾何圖形激光光路一致；否則，結(jié)論將是錯(cuò)誤的。XRF涂層測(cè)厚儀照相機(jī)幫助您準(zhǔn)確定位測(cè)量區(qū)域。在某些情況下，照相機(jī)用于向自動(dòng)控制模塊提供圖像數(shù)據(jù)，或包含較大的圖像，以準(zhǔn)確定位必須測(cè)量的區(qū)域。樣品可以固定或移動(dòng)XRF在涂層測(cè)厚儀的樣品平臺(tái)上?？焖倩蚓徛囊苿?dòng)對(duì)于尋找零件尤為重要，然后專注于測(cè)量精確的零件。控制臺(tái)移動(dòng)精度是產(chǎn)生清晰目標(biāo)的一個(gè)因素，因此致力于設(shè)備的整體精度。
XRF能量測(cè)薄厚類科技
XRF較小技術(shù)檢驗(yàn)厚度約為1nm。如果小于這個(gè)水平，相應(yīng)的特性X射線會(huì)沉入噪聲信號(hào)中，無(wú)法識(shí)別。大的類別大約是50μm在內(nèi)部。如果**此級(jí)別，則涂層厚度可能導(dǎo)致內(nèi)層發(fā)出的X射線無(wú)法通過(guò)涂層到達(dá)探測(cè)器。也就是說(shuō)，厚度的進(jìn)一步增加不會(huì)導(dǎo)致更多的X射線到達(dá)探測(cè)器，因此厚度達(dá)到飽和狀態(tài)，無(wú)法測(cè)量變化。
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  詞條說(shuō)明

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