AL2D525V-100Kvar電容器參數(shù)

    AL2D525V-100Kvar電容器參數(shù)通過x光檢測可以發(fā)現(xiàn),這類熱電偶的測量端和陶瓷管部之間往往具有一定的空隙。在與標準熱電偶捆扎在一起進行校準時,由于無法獲知測量端在瓷管內(nèi)的具置,導致校準結(jié)果誤差較大。測試結(jié)果如表1所示。故測試結(jié)果為由孔底向外各點的數(shù)據(jù)。需要用貴金屬熱電偶進行控溫和溫場測試。有時會采用不可拆卸的陶瓷封裝結(jié)構(gòu)為氣密性由于工作溫度較高在真空熱處理設(shè)備中由于均溫塊測試孔為盲孔帶均溫塊時軸向與徑向溫場測試示意圖分別如圖2軸向和圖3所示對于這種情況,可以參考鎧裝熱電偶的校準方法,將熱電偶插入均溫塊中進行校準。由于均溫塊本身具有較好的孔間溫度一致性,可以獲得準確的校準結(jié)果。但由于貴金屬熱電偶校準溫度較高,需要綜合考慮均溫塊的使用溫度,采用合適的高溫合金塊。
    按常規(guī)方法無法準確校準。通過設(shè)計制作符合其結(jié)構(gòu)特點的均溫塊,實現(xiàn)t3熱電偶靜態(tài)溫度特性校準。該均溫塊的開孔尺寸略大于熱電偶直徑,孔深也隨之增加,熱電偶插入均溫塊的深度與孔徑之比滿足要求。由于均溫塊內(nèi)部的傳熱方式主要以導熱為主,高溫時金屬內(nèi)部溫度分布均勻。該型熱電偶結(jié)構(gòu)特殊受溫度波動影響小。帶來較大測量誤差造成校準時受熱不均勻捆扎裝爐后會明顯改變管式爐溫場并且這類熱電偶一般直徑比較粗因此校準時對溫度場有著較高要求故能夠提供一個穩(wěn)定且均勻的溫場。試驗結(jié)果表明:將均溫塊應用于t3熱電偶的校準中是有效且的。為了好的校準結(jié)果,還可以將標準熱電偶套上與被校偶相似的外加金屬保護管,使二者輻射性能相接近。
    對于-200~0℃的溫度范圍:rt=r0[1+at+bt2+c(t-100℃)t對于0~850℃的溫度范圍:rt=r0(1+at+bt對于常用的工業(yè)鉑熱電阻,在以上兩式中的常數(shù)值分別為:a=3.90802×10-3℃-b=-5.802×10-7℃-c=-4.27350×10-12℃。
    對于滿足以上關(guān)系式中鉑熱電阻的溫度系數(shù)為:α=0.003850Ω·Ω-1·℃-1(α定義為:α=(r100-r/100×r0Ω·Ω-1·℃-在上述關(guān)系式中,r100為100℃時的電阻值,r0為0℃時的電阻值。
    鉑熱電阻分度表可根據(jù)上述鉑熱電阻的電阻-溫度關(guān)系制訂,但不包括其它的電阻分度表。本標準采用1968年**實用溫標(ipts-的溫度值。注:上述等式中所定義的電阻值不包含感溫元件與終端之間引線的電阻值,除非廠商特殊說明。3.1條款中的電阻值見。
    如果試驗是通過改變鉑熱電阻周圍介質(zhì)的溫度而進行的,則試驗介質(zhì)到達終溫度值的50%所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。如果試驗是通過鉑熱電阻投入溫度不同的介質(zhì)而進行的,則被試鉑熱電阻到達終置入深度所需的時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1/10。
    記錄儀器或儀表(詳見iec2直接作用的記錄電子測量儀器及其附件)的響應時間不應**過鉑熱電阻的τ0.5的1所記錄的熱響應時間值應取同一試驗至少三次測試結(jié)果的平均值,每次測試結(jié)果對于平均值的偏離應在±10%以內(nèi)。
    被試鉑熱電阻的置入部分應位于試驗流道的中部,其縱軸在垂直于介質(zhì)流動方向的平面上,流道的寬度應不小于被試鉑熱電阻直徑的10倍。熱響應時間小于1秒時,測試儀器應被設(shè)計為在鉑熱電阻前后方向不存在流動水的自由液面以避免加氣處理。在試驗流道的可用橫截面內(nèi),流速ν應保持0.4±0.05m初始溫度在5℃~30℃的范圍內(nèi)。溫度階躍值應不大于10℃。在試驗過程中,水的溫度變化應不大于溫度階躍值的±1%。試驗時。
    小置入深度應等于鉑熱電阻的敏感長度與直徑的5倍之和。若被試鉑熱電阻的設(shè)計置入深度小于上述數(shù)值,則按設(shè)計置入深度進行試驗,并在試驗報告中說明。試驗應在攪拌水槽中進行,水的溫度保持為0℃。詳見附被試鉑熱電阻處于設(shè)計置入深度,其激勵電流應耗散功率不大于0.1mw,在這樣的條件下測量被試鉑熱電阻的穩(wěn)態(tài)電阻值。
    在鉑熱電阻的額定電阻值為100Ω時,后一次測量穩(wěn)態(tài)電阻值應采用的激勵電流值為10ma。電阻值為10Ω時,對應的電流為30ma。對應電阻值所增加的溫度應不**過0.3℃。注:自熱測試不適合小型尺寸的鉑熱電阻。鉑熱電阻用于氣體中時,如需要,可要求廠商提供自熱影響的說明。
    對用于嚴酷環(huán)境的鉑熱電阻,應進行附加的型式檢驗。具體事宜應由廠商與用戶商定。實例如下:試驗裝置為鋪放在地面上的一塊厚度為6mm的鋼板。試驗時,被試鉑熱電阻的縱軸與鋼板表面基本上保持平行,兩者的距離約250mm。然后讓被試鉑熱電阻從這個高度自由跌落至鋼板上,這樣的過程應重復10次。
    整個過程持續(xù)150h。每半個周期內(nèi)應以縱向及橫向?qū)︺K熱電阻進行振動試驗。試驗時應記錄共振的頻率及特性,同時應持續(xù)監(jiān)測電力連續(xù)性能。并按4.2.1進行絕緣電阻試驗。試驗結(jié)束鉑熱電阻在經(jīng)受振動試驗前后。有無斷路或短路立即檢查被試鉑熱電阻有無機械損壞其0℃電阻值的變化量換算成溫度值不應**過0.05℃。并按4.2.1進行絕緣電阻試驗及電力連續(xù)性的維護。加速度為20m/s2~30m/s2。頻率為1倍頻/分被試鉑熱電阻的振動頻率范圍為10hz~500hz試驗裝置應與振動器連接牢固。
    其0℃電阻值的變化量換算成溫度值不應**過0.05℃。試驗結(jié)束,壓力回復至常壓。此試驗是在沒有任何防護的情況下立即按4.2.1進行絕緣電阻測量。將鉑熱電阻放入密閉的容器中。被試鉑熱電阻置于充水的不銹鋼壓力試管中。兩者的間隙很小。詳見圖b2。被試鉑熱電阻的置入深度應至少等于設(shè)計置入深度。其激勵電流應耗散功率不大于0.1mw。被試鉑熱電阻的激勵功率保持不變。壓力試驗管的壓力逐漸增加到3.5mpa。同時監(jiān)測被試鉑熱電阻的電阻值變化。試驗前后。
    鉑熱電阻在經(jīng)受壓力試驗的過程中,應不發(fā)生斷路或短路,無機械損壞。湘創(chuàng)電器精品:溫度變送器壓力變送器無紙記錄儀流量積算儀溫控器顯示儀表隔離器安全柵電力儀表手動操作器標準熱電偶標準鉑電阻熱電偶熱電阻超聲波液位計過程校驗儀。
    e-mail:本站訪問量:技術(shù)支持:湘創(chuàng)電器自動化滇icp備號常規(guī)儀表臺數(shù):凡是能組成檢測,控制回路的單元分別按臺數(shù)統(tǒng)計。調(diào)節(jié)單元:控制室的各種調(diào)節(jié)器,現(xiàn)場各種基地式調(diào)節(jié)器。如果調(diào)節(jié)器與二次表組成一體,則統(tǒng)計為一臺儀表。
    測量變送單元:差壓變送器,壓力變送器,溫度變送器,溫包變送器,速度變送器,攝像變送器,毫伏變送器,液位變送器,鋼帶液位計,遠傳轉(zhuǎn)子流量計,橢圓流量計,渦輪流量計,旋渦流量計,電磁流量計,超聲波流量計,雷達液位計,質(zhì)量流量計,楔形流量計等變送單元。
    計算單元:加減器,乘除器,開方器,積算器,繼動器,比例設(shè)定器,信號分配器等。
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