高壓陶瓷電容器的可靠性測試,也叫老化測試,壽命測試,包括很多方面的測試內(nèi)容:
?1,耐壓實驗,包括額定工作電壓24小時工作測試;也包括擊穿耐壓,即破壞性測試,電容被擊穿前的那一個臨界電壓就是擊穿電壓。
?2,串聯(lián)電阻測試,絕緣電阻測試;
?3,拉力測試,即引線與芯片焊接的牢固度;
?4,正負(fù)溫變化率測試,即-40度到+60度狀況下,電容的變化率;
?5,老化測試,電容在模擬工作環(huán)境狀態(tài)下運作30~60天,測試其衰減其各項參數(shù)的變化;
?6,壽命測試,即在老化測試的基礎(chǔ)上,再對電容進(jìn)行高頻沖電流下快速充放電測試,得到的充放電次數(shù)就是充放電壽命,注意,這個壽命的得出是在長時間的老化之后得出的。
?7,局放測試,即局部放電測試。
當(dāng)然,在這些測試過程中,我們可以得出各種參數(shù),如額定電壓,擊穿電壓,過電流,工作頻率,容量變化率,絕緣電阻,等。每一種電容在研發(fā)與生產(chǎn)配料再次生產(chǎn)時,都要重新進(jìn)行測試,才能準(zhǔn)確判斷產(chǎn)品是否合格。
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詞條
詞條說明
表面貼裝電阻器是主要關(guān)鍵的電子元件電路組成。多樣化電子、電路的使用和需求,開發(fā)了貼片電子元件。 單晶片電阻或復(fù)合片式電阻器對于單晶電阻器,選項的厚膜貼片或薄膜貼片。 需穩(wěn)定和 度應(yīng)用的要求電氣規(guī)格的溫度系數(shù) TCR 和電阻公差參數(shù)。 貼片電阻識別方法貼片元件具有體積小、重量輕、安裝密度高,抗震性強.抗干擾能力強,高頻特性好等優(yōu)點。 廣泛應(yīng)用于計算機、手機、電子辭典、醫(yī)療電子產(chǎn)品、攝錄機、電子電度
什么是電容器溫度特性? 電容器在溫度變高時電容量可以變低也可以變高, 一、溫度與電容的壽命。 一般情況下,電容的壽命隨溫度的升高而縮短,較明顯的是電解電容器。一個極限工作溫度為85℃的電解電容器,在溫度為20℃的條件下工作時,一般情況可以保證181019小時的正常工作時間;而在極限溫度85℃的條件下工作時,一般情況僅僅可以保證2000小時的正常工作時間。所以,在設(shè)計電路時,應(yīng)注意此情況。 二、溫
壓敏電阻過電壓在電路系統(tǒng)中頻繁顯現(xiàn),則壓敏電阻就會頻繁行徑以抑制過電壓幅值和吸收釋放電涌能量,這勢必會招致壓敏電阻器的機能劣化。 按照壓敏電阻器失效后的表現(xiàn)情況來看,可以分成三種常見的失效狀態(tài):炸裂壓敏電阻器在抑制過電壓時將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象,非常明顯。 穿孔電阻器的陶瓷外層將會瞬間發(fā)生擊穿,出現(xiàn)穿孔狀態(tài)。 劣化實物表現(xiàn)為使用萬用表測試壓敏電阻時出現(xiàn)漏電流增大情況,壓敏電壓顯著下降,直至為零。
電容器是一種非常常用的電子元器件之一,它是一種可以儲存電荷的元件,在直流電路中可以起到斷路的作用。 從電容的構(gòu)造上來講,一般兩個基板中間再填充一些絕緣電介質(zhì)就可以組成一個較簡單的電容器。當(dāng)整個電容器接入電路中通電后,一端的較板上帶電就會向另一端形成電壓,但因為中間有絕緣體的存在所以這個時候整個電容器并不通電,只是在不停的儲存電荷,也可以稱作電容器的充電過程。其實這也是因為這時貼片電容內(nèi)的電壓沒有
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