對(duì)于測試設(shè)各和某控制系統(tǒng),它們之間由電纜相連,測試設(shè)備向控制系統(tǒng)發(fā)出控制信號(hào)、發(fā)送數(shù)據(jù)及接收控制系統(tǒng)返回的狀態(tài)信號(hào)均通過電纜傳輸,因此,綜合測試設(shè)各和控制系統(tǒng)在各測試步驟中的工作狀態(tài)均在這些電纜中有所反映。為此,本文提出了如圖1所示的總體設(shè)計(jì)方案。 圖1系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)方案
在設(shè)備連接關(guān)系上,故障監(jiān)測診斷系統(tǒng)通過信號(hào)轉(zhuǎn)接箱與控制系統(tǒng)以及綜合測試設(shè)備相連,當(dāng)測試設(shè)備對(duì)控制系統(tǒng)進(jìn)行綜合測試時(shí),信號(hào)轉(zhuǎn)接箱將控制系統(tǒng)及其綜合測試設(shè)備所產(chǎn)生的各種信號(hào)轉(zhuǎn)接后送至信號(hào)調(diào)理單元,由信號(hào)調(diào)理單元完成對(duì)信號(hào)的濾波、限幅、整形、放大、隔離等處理。同時(shí),PC104計(jì)算機(jī)通過PC總線向數(shù)據(jù)采集板發(fā)出控制指令,控制相應(yīng)的繼電器組和模擬開關(guān)工作,接通需要采集的信號(hào)通道,通過A/D接口板和I/O接口板對(duì)被測設(shè)備的電壓量、頻率量、丹關(guān)量和時(shí)間量進(jìn)行采集,并將采集到的信號(hào)進(jìn)行分析、判斷和顯示。
針對(duì)測試設(shè)備監(jiān)測信號(hào)具有種類多、數(shù)量大的特殊性,結(jié)合基于PC104總線的嵌入式CPU主板和數(shù)據(jù)采集板的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),系統(tǒng)采用技術(shù)成熟的PC104總線CPU模塊PCM3350、I/O接口板ONYX.MM-XT和A/D接口板DIAMOND-MM-AT作為拜發(fā)平臺(tái),外加上自行開發(fā)的外圍信號(hào)調(diào)理電路和接口模塊,運(yùn)用模塊化設(shè)計(jì)思想,實(shí)現(xiàn)了故障監(jiān)測診斷系統(tǒng)所要求的功能。
開關(guān)量測量模塊的設(shè)計(jì)
本系統(tǒng)需要采集的開關(guān)信號(hào)有50路,其平時(shí)狀態(tài)為低電平(幅值為0V),工作時(shí)為高電平。其中有19路信號(hào)的高電平狀態(tài)為15V,31路信號(hào)的高電平狀態(tài)為5V。
隔離電路的設(shè)計(jì)
系統(tǒng)的隔離測試和電平轉(zhuǎn)換功能的實(shí)現(xiàn)主要是通過光電隔離芯片TLP521-4L來完成的。考慮到引人的數(shù)字信號(hào)驅(qū)動(dòng)能力有限,為了減少監(jiān)測診斷系統(tǒng)對(duì)綜合測試設(shè)備工作的影響,增強(qiáng)信號(hào)的驅(qū)動(dòng)能力,在對(duì)信號(hào)進(jìn)行光電隔離前需將待測開關(guān)信號(hào)輸入到八輸入/輸出反相驅(qū)動(dòng)器ULN2803A中,以保證TLP52l-4L能穩(wěn)定可靠地工作。設(shè)計(jì)的開關(guān)信號(hào)光電隔離電路如圖2示。 圖2開關(guān)信號(hào)采集電路
開關(guān)信號(hào)的采集
對(duì)于31路高電平狀態(tài)為5V的開關(guān)量,在經(jīng)過圖2的電路進(jìn)行光電隔離后,分別接入擴(kuò)展82C55#3板上的A口、B口和C口禾口ONYXˉMM-XT板上82C55#2的C口。
對(duì)于19路高電平狀態(tài)為15V的開關(guān)信號(hào),由于電壓較高,需通過一個(gè)lMΩ和一個(gè)510kΩ的電阻分壓,經(jīng)電壓跟隨器跟隨信號(hào)和ULN2803A反相驅(qū)動(dòng)后引入到光電隔離芯片TLP52,1.2L輸入端。當(dāng)監(jiān)測診斷系統(tǒng)需要采集數(shù)據(jù)時(shí),PC104計(jì)算機(jī)通過PC總線分別向3片82C55發(fā)出控制指令,讀取相應(yīng)的數(shù)字采集通道,實(shí)現(xiàn)開關(guān)信號(hào)的采集。設(shè)計(jì)的開關(guān)信號(hào)采集電路如圖2所示。
電壓測量摸塊的設(shè)計(jì)
分壓電路的設(shè)計(jì)
經(jīng)分析總結(jié)發(fā)現(xiàn):當(dāng)測試設(shè)備工作時(shí),通過檢測其64路電壓信號(hào)可全面監(jiān)測到各功能模塊的電壓和電阻狀態(tài)參數(shù),其中電阻阻值的測量原理上仍然是測量電壓。一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電壓%先經(jīng)過一個(gè)已知電阻R。,再串聯(lián)到被測電阻Rx,上,因此只需測出電阻凡上的電壓饑,由歐姆定律可知:
故被測電RX的值為:
其中U0、R0為已知,UX為被測電壓,故由式(2)很容易算出凡的值。
由于DIAMOND-MMAT對(duì)電壓信號(hào)輸入范圍要求為-10V~+10V,而測試設(shè)備電壓信號(hào)的范圍為0~170V,為保證A/D轉(zhuǎn)換器正常工作,需將不同幅值的輸入電壓信號(hào)調(diào)整到0~10V范圍內(nèi),因此需將大于10V的電壓信號(hào)進(jìn)行衰減。要實(shí)現(xiàn)電壓衰減通常要用到電阻分壓網(wǎng)絡(luò)。分壓電路的電壓衰減量為輸出電壓Ui'與輸入電壓Ui之比,設(shè)R2C2的并聯(lián)阻抗為Z2,R1C1的并聯(lián)阻抗為Z1,當(dāng)衰減器元件參數(shù)滿足R1C1=R2C2的關(guān)系時(shí),分布電容的影響就可不予考慮,此時(shí)衰減器的分壓比為:
輸入到A/D轉(zhuǎn)換器的電壓值為:
為減小對(duì)被測信號(hào)的影響,R2和R1通常取值較大,而A/D的輸入阻抗R,的值并非無窮大,所以實(shí)際輸入到A/D轉(zhuǎn)換器的電壓為:
其中:
由式(5)和式(6)可知,如果A/D的輸入阻抗值Ri和R2接近,將會(huì)給測量結(jié)果帶來較大誤差。解決的方法是在分壓網(wǎng)絡(luò)與A/D轉(zhuǎn)換器之間加一個(gè)電壓跟隨器,由于電壓跟隨器的輸入阻抗很大,R,近似于無窮,因此,R,對(duì)測量結(jié)果的影響可忽略不計(jì),改進(jìn)的分壓網(wǎng)絡(luò)電路如圖3所示。 圖3改進(jìn)分壓網(wǎng)絡(luò)
設(shè)計(jì)中為了減小因電阻分壓帶來的誤差,電路中的分壓電阻統(tǒng)一采用精度為1%的金屬膜電阻。跟隨器隔離之后,采樣電路對(duì)原始信號(hào)的影響降低到了較低程度。
電壓信號(hào)的隔離
考慮到電壓信號(hào)要求測量其幅值,因此不能采用隔離開關(guān)信號(hào)的方式來實(shí)現(xiàn)電壓信號(hào)的隔離、本系統(tǒng)采用了美ffino公司生產(chǎn)的高速耦合隔離放大器AD215芯片來實(shí)現(xiàn)電壓信號(hào)的線性隔離。設(shè)計(jì)+AD215主要是用來實(shí)現(xiàn)信號(hào)隔離,因此其放大倍數(shù)設(shè)為1:1。
電壓信號(hào)的測量
雖然測試設(shè)備待測電壓路數(shù)較多,但其產(chǎn)生的電壓都是順序執(zhí)行的信號(hào),考慮到線形光隔AD215和A/D板DIAMOND-MMAT的費(fèi)用較高,為降低開發(fā)成本、簡化電路設(shè)計(jì)和縮小電路板體積,本監(jiān)測診斷系統(tǒng)采用了多路復(fù)用技術(shù),這樣A/D板使用單個(gè)A/D測量通道就可測量多個(gè)信號(hào)。A/D轉(zhuǎn)換器采集完一個(gè)通道后,PCM3350發(fā)出指令控制模擬開關(guān)動(dòng)作,轉(zhuǎn)換到另一個(gè)通道并進(jìn)行采集,然后再轉(zhuǎn)換到下一個(gè)通道,如此往復(fù)。采集原理如圖4所示。 圖4電壓信號(hào)采集原理框圖
時(shí)間測昱摸塊的設(shè)計(jì)
根據(jù)測試設(shè)備的工作情況,本監(jiān)測診斷系統(tǒng)要求的較大計(jì)時(shí)量應(yīng)為3s,而一個(gè)帶4MHz時(shí)鐘的16位計(jì)時(shí)器較長計(jì)時(shí)時(shí)間僅為16384ms,所以測量時(shí)間時(shí)需將二個(gè)16位計(jì)數(shù)器級(jí)聯(lián)成32位來工作,這樣計(jì)時(shí)器較長計(jì)時(shí)時(shí)間可達(dá)1073.742s。在硬件設(shè)計(jì)上,系統(tǒng)通過將計(jì)數(shù)器1和計(jì)數(shù)器2級(jí)聯(lián),即將計(jì)數(shù)器l的OUT1接至計(jì)數(shù)器2的CLK2,門控信號(hào)GATE1和GATE2均由ONYX-MM-XT板上82C55#2的BS口來控制,CLK1端接頻率為4MHz的標(biāo)準(zhǔn)頻率源。通過設(shè)定計(jì)數(shù)器2的初始計(jì)數(shù)值并在計(jì)數(shù)結(jié)束后讀取其計(jì)數(shù)值,利用一定的換算關(guān)系即可計(jì)算出測得的時(shí)間,測量原理如圖5所示。 圖5時(shí)間信號(hào)測量原理圖
頻率測量模塊的設(shè)計(jì)
定時(shí)的實(shí)現(xiàn)
由于ONYX-MM-xr板上自帶的標(biāo)準(zhǔn)輸入時(shí)鐘頻率為4MHz,而系統(tǒng)需要測量的信號(hào)頻率為3KHz,因此,該頻率的測量即是一個(gè)對(duì)8254定時(shí)0.01s并對(duì)信號(hào)進(jìn)行計(jì)數(shù)30的測量,由此可得定時(shí)器的計(jì)數(shù)值為:
設(shè)計(jì)上仍是按圖8將計(jì)數(shù)器1、2級(jí)聯(lián)作為定時(shí)器,每到0.01s就觸發(fā)中斷INT7,其工作方式設(shè)置如下:計(jì)數(shù)器1工作于方式2,計(jì)數(shù)器2工作于方式0。設(shè)計(jì)數(shù)器1的計(jì)數(shù)初值為NI,計(jì)數(shù)器2的計(jì)數(shù)初值為N2,只要保證N1×N2=00,然后將各自的計(jì)數(shù)初值送入相應(yīng)的寄存器、打開門控信號(hào)并啟動(dòng)計(jì)數(shù)器即可實(shí)現(xiàn)定時(shí)。
測頻的實(shí)現(xiàn)
根據(jù)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)要求,結(jié)合被測頻率信號(hào)的特點(diǎn),各計(jì)數(shù)器的工作方式分別設(shè)定為:計(jì)數(shù)器0工作于方式4、計(jì)數(shù)器1工作于方式2、計(jì)數(shù)器2工作于方式0。其中,計(jì)數(shù)器0的CLK0端接被測頻輒作為事件計(jì)數(shù)器,計(jì)數(shù)器1的CLK1端接4MHz的標(biāo)準(zhǔn)輸入時(shí)鐘頻率f0,計(jì)數(shù)器l與計(jì)數(shù)器2形成串聯(lián)結(jié)構(gòu)作為定時(shí)器,GATE0、GATEl和GATE2均受82C55#2的BS口控制。這樣,被測頻鞔的值可通過下面的公式來計(jì)算:
其中,N0為計(jì)數(shù)器0的當(dāng)前計(jì)數(shù)值,OxFFFF為計(jì)數(shù)器0的計(jì)數(shù)初值。
結(jié)論
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詞條
詞條說明
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基于電纜的故障監(jiān)測診斷系統(tǒng)設(shè)計(jì)
對(duì)于測試設(shè)各和某控制系統(tǒng),它們之間由電纜相連,測試設(shè)備向控制系統(tǒng)發(fā)出控制信號(hào)、發(fā)送數(shù)據(jù)及接收控制系統(tǒng)返回的狀態(tài)信號(hào)均通過電纜傳輸,因此,綜合測試設(shè)各和控制系統(tǒng)在各測試步驟中的工作狀態(tài)均在這些電纜中有所反映。為此,本文提出了如圖1所示的總體設(shè)計(jì)方案。 圖1系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)方案 在設(shè)備連接關(guān)系上,故障監(jiān)測診斷系統(tǒng)通過信號(hào)轉(zhuǎn)接箱與控制系統(tǒng)以及綜合測試設(shè)備相連,當(dāng)測試設(shè)備對(duì)控制系統(tǒng)進(jìn)行綜合測試時(shí),信號(hào)轉(zhuǎn)接箱將
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