涂層測(cè)厚儀leeb242測(cè)量原理及分類

時(shí)間：2015-04-09作者：南昌星楓儀器有限公司瀏覽：136

leeb242涂層測(cè)厚儀覆層測(cè)厚儀采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法，可無(wú)損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等)，以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。測(cè)頭類型Leeb242測(cè)頭類型F1或N1工作原理磁感應(yīng)或電渦流測(cè)量范圍0~1000μm低限分辨率0.1μm示值誤差一點(diǎn)校準(zhǔn)±（3%H+1）二點(diǎn)校準(zhǔn)±[（1~3%)H+1]測(cè)試條件較小曲率半徑mm凸1.5、凹9較小面積直徑mmΦ7基本臨界厚度mm0.5工作環(huán)境溫度0~40℃濕度20%~90%電源6V可充電鎳氫電池外形尺寸212×80×32mm（主機(jī)）重量400g標(biāo)準(zhǔn)配置主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、電源適配器、打印紙選配其他多種探頭、打印紙、
南昌星楓儀器有限公司專注于測(cè)距儀,涂層測(cè)厚儀,超聲波測(cè)厚儀,里氏硬度計(jì),測(cè)振儀等

• 詞條

  詞條說(shuō)明

• CED-3000磁粉探傷儀技術(shù)參數(shù)

  本設(shè)備采用高集成化電路、控制模塊，大電流可控，連續(xù)可調(diào)，體積小，重量輕，維修方便。 設(shè)備電源進(jìn)線為一根三芯電纜線，1、2腳為電源進(jìn)線，3腳為零線，磁化電流采用銅排輸出。 功能用途 設(shè)備能對(duì)零件進(jìn)行交直流磁化和交流自動(dòng)退磁；可用作連續(xù)法和剩磁法探傷；可固定使用或攜帶到現(xiàn)場(chǎng)使用。配以恰當(dāng)方法如：支桿法或纏繞法，能使零件異形部位獲得合適的磁化。并能對(duì)大尺寸零件進(jìn)行分段探傷。 工作原理 電路采用調(diào)整可控

• 江西MT280超聲波測(cè)厚儀選購(gòu)指南

  MT280多模式超聲波測(cè)厚儀 本儀器是超聲波測(cè)厚儀，基于超聲波測(cè)量原理，可以測(cè)量金屬、非金屬材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。與傳統(tǒng)的測(cè)量方法相比，超聲波測(cè)厚儀的優(yōu)點(diǎn)在于它只要能接觸被測(cè)工件的一面即可完成厚度測(cè)量。 本儀器具有多模式超聲測(cè)厚功能，允許使用者在**-回波模式（檢測(cè)缺陷和凹坑）和回波-回波模式（不計(jì)入涂覆層厚度）之間進(jìn)行自由切換。本儀器可廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、

• 紫外輻照計(jì)XF-UV-A技術(shù)參數(shù)

  UV-A紫外輻照計(jì)(單通道) 該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。 主要性能指標(biāo)： * 波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng) (二者擇其一) （1）UV－365探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖） λ：(320～400)nm； λP＝365nm （2）UV－420探頭（光譜響應(yīng)曲線見圖） λ：(375～475)nm； λP＝420nm * 輻照度測(cè)量范圍

• PL4001-L精密天平優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

  PL4001-L精密天平 經(jīng)典系列PL-L天平提供便攜式天平所需的一切，并具有較高的性價(jià)比。 功能和特點(diǎn) 緊湊性：便捷，緊湊的設(shè)計(jì)。 高性價(jià)比：具有天平該有的所有基本功能和特點(diǎn)。 實(shí)用性：操作簡(jiǎn)單。 標(biāo)準(zhǔn)特性: 應(yīng)用程序: 內(nèi)置的過(guò)載保護(hù)功能 符合各標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)的AC適配器 下掛稱量的**掛鉤 計(jì)件稱量 百分比稱量 可選的顯示增量實(shí)現(xiàn)快速稱量 可在各種稱量單位之間進(jìn)行切換:g, kg, mg, ct,