大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
產(chǎn)品特點(diǎn)對(duì)應(yīng)高鹽濃度溶液界達(dá)電位 ??闪繙y(cè)0-90℃寬闊的溫度范圍??闪繙y(cè)懸濁度的高濃度樣本粒徑。搭載自動(dòng)溫度梯度測(cè)量功能,可分析變性、相變溫度。通過較i新型的高感度APD提高感光度,成功縮短了量測(cè)時(shí)間。
激光粒度儀的測(cè)量原理要求在測(cè)試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個(gè)要求非常難以掌握,因此在實(shí)際的粒度測(cè)試中,通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量保證顆粒之間不發(fā)生二次散射。
粒徑儀提供快速、準(zhǔn)確、便捷的粒徑大小測(cè)試,界連電位測(cè)試以及分子量的測(cè)試。 該分析儀可在0.3nm-10μm粒度范圍內(nèi)進(jìn)行粒徑測(cè)量,-200到200mV間進(jìn)行界達(dá)電位測(cè)量。光學(xué)配件■ 高輸出半導(dǎo)激光,高感度APD檢出器,**軟件,其他。歡迎新老客戶來電咨詢!
應(yīng)用范圍■ 涂料行業(yè)粒徑測(cè)試
■ 食品行業(yè)中牛奶粒徑測(cè)試
■ 石化行業(yè)中催化劑粒徑測(cè)試
■ 4非金屬礦物粉體工業(yè)中粒徑測(cè)試
詞條
詞條說明
ELSZ粒子直徑測(cè)試誠(chéng)信企業(yè)推薦
ELSZ-1000ZS閃電發(fā)貨OTSUKA,日本大塚電子Zeta電位,粒度測(cè)量系統(tǒng); OTSUKA平面顯示器(FPD)光電特性檢測(cè), OTSUKA液晶層間隙(Cell gap)量測(cè)設(shè)備, OTSUKA彩色濾光片色度檢查機(jī), OTSUKA平面顯示器(FPD)大尺寸樣品專, OTSUKA大塚OLED元件光電特性檢測(cè)設(shè)備, FPD相關(guān)的檢查和評(píng)價(jià)設(shè)備: 動(dòng)態(tài)畫面反應(yīng)時(shí)間檢測(cè)儀:MPRT-2000, 相
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢! 產(chǎn)品特點(diǎn)對(duì)應(yīng)高鹽濃度溶液界達(dá)電位 ??闪繙y(cè)0-90℃寬闊的溫度范圍。可量測(cè)懸濁度的高濃度樣本粒徑。搭載自動(dòng)溫度梯度測(cè)量功能,可分析變性、相變溫度。通過較i新型的高感度APD
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、**EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢! 紫外吸收光譜有多種表示方法,圖形隨表示方法不同而異。有以logε作縱坐標(biāo),波長(zhǎng)為橫坐標(biāo);有橫坐標(biāo)為波數(shù)和頻率;自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI,AutomatedOpticalInsp
FE3000反射式膜厚量測(cè)儀:產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。高精度、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。 可在軟件上設(shè)定激發(fā)光源的波長(zhǎng)及步值,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)量 電流-**效率曲線 電流-光通量曲線 電流-功率曲線 電流-色溫曲線 電流-色坐標(biāo)曲線 電流-顯色性曲線 電流-電壓曲線 光纖在較度彎曲后會(huì)有可能發(fā)生斷裂。故,請(qǐng)將彎
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