儀器簡介:ICP-MS 2000E是的新型電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(如圖1),儀器整體性能指標(biāo)優(yōu)異,*;ICP-MS 2000E配置自動進(jìn)樣器,使測試過程加自動化,提高測試效率;采用新的碰撞反應(yīng)池技術(shù),有效的消除多原子離子干擾,降低易受干擾元素的檢出限;智能化軟件,集成應(yīng)用方法包,簡化樣品測試過程,提高測試數(shù)據(jù)的可靠性。ICP-MS 2000E已廣泛應(yīng)用于環(huán)境、食品、半導(dǎo)體、核工業(yè)、石油化工、礦產(chǎn)、醫(yī)藥及生理分析等領(lǐng)域。
圖1.ICP-MS 2000E電感耦合等離子質(zhì)譜儀 1.原理
ICP-MS中質(zhì)譜干擾主要為多原子離子干擾,通??刹捎脭?shù)學(xué)干擾校正方程進(jìn)行校正或采用碰撞反應(yīng)功能,消除多原子干擾離子。碰撞反應(yīng)功能是指在質(zhì)譜儀內(nèi)引入碰撞反應(yīng)氣體,使某些多原子干擾離子發(fā)生解離、轉(zhuǎn)移等反應(yīng),降低干擾離子對待測同位素的影響。 2.實(shí)驗(yàn)
2.1試劑及儀器
2.2 樣品前處理
2.3儀器工作參數(shù)優(yōu)化 表1. He/H2碰撞反應(yīng)模式下75amu處背景等效濃度
表2.碰撞反應(yīng)模式下儀器工作參數(shù)
3.數(shù)據(jù)與討論
3.1 氬基相關(guān)多原子干擾離子 表3. 氬基相關(guān)多原子干擾離子
圖3.52Cr、56Fe、75As、80Se在標(biāo)準(zhǔn)模式及碰撞反應(yīng)模式下響應(yīng)信號(52Cr、56Fe)
3.2 加標(biāo)回收率及精密度 表4 加標(biāo)回收率及精密度
4. 結(jié)論 通過優(yōu)化He/H2碰撞反應(yīng)氣流量,可以較好的消除氬原子相關(guān)多原子離子干擾,使ICP-MS可以測定Fe、Se等受干擾的主同位素。通過對測試方法檢出限、回收率、精密度的考察,表明ICP-MS 2000E碰撞反應(yīng)模式測量地表水中金屬元素的測定,可有限避免多原子離子質(zhì)譜干擾,滿足行業(yè)分析要求。 |
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詞條
詞條說明
XRF作為精密元素分析儀之一,分析儀具有非常強(qiáng)大的功能Na(11)到U(92)廣泛應(yīng)用于工業(yè)、航天、環(huán)保、農(nóng)業(yè)等領(lǐng)域。XRF元素具有操作方便、樣品無損檢測、樣品可以是任何形狀等優(yōu)點(diǎn)。日常使用中,XRF在分析元素時,同一樣品檢測的精度往往不同。大多數(shù)操作員中有一個是儀器故障。事實(shí)并非如此XRF這種精度儀器在使用過程中會受到這些因素的影響,導(dǎo)致結(jié)果偏差。時 間一般來說,測試時間越長,精度越準(zhǔn)確,ROH
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