采用光譜分析法檢測電子電器產(chǎn)品中鎳鍍層的厚度及其釋放潛力,通??梢允褂靡韵虏襟E:
首先,準(zhǔn)備好待檢測的樣品,確保其表面清潔、無損傷和污染物,以獲得準(zhǔn)確的檢測結(jié)果。
常用的光譜分析方法如 X 射線熒光光譜法(XRF),利用 X 射線激發(fā)樣品中的原子,產(chǎn)生特征熒光 X 射線。通過測量這些熒光 X 射線的能量和強(qiáng)度,可以確定樣品中元素的種類和含量。對于鎳鍍層厚度的檢測,XRF 能夠根據(jù)鎳元素的特征譜線強(qiáng)度來推算鍍層的厚度。
在檢測釋放潛力時,可先對樣品進(jìn)行模擬使用條件下的處理,如浸泡在特定的溶液中一定時間,以模擬人體汗液的作用。然后,再次使用光譜分析法檢測溶液中鎳的含量,從而評估鎳的釋放潛力。
另一種光譜分析方法是原子吸收光譜法(AAS)。將樣品經(jīng)過適當(dāng)?shù)南馓幚恚规囖D(zhuǎn)化為離子狀態(tài)。然后,通過原子吸收光譜儀測量鎳離子對特定波長光的吸收程度,進(jìn)而確定鎳的含量,以此間接推斷鍍層厚度和釋放潛力。
例如,對于電子連接器上的鎳鍍層,使用 XRF 可以快速、無損地測量鍍層厚度。而對于復(fù)雜形狀的電子零件,可能需要結(jié)合 AAS 進(jìn)行較精確的鎳釋放潛力評估。
在實際操作中,要注意儀器的校準(zhǔn)、檢測環(huán)境的控制以及樣品的代表性,以確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
詞條
詞條說明
高低溫測試,又高低溫循環(huán)測試,在電子產(chǎn)品環(huán)境可靠性測試中較為常見。 高低溫測試是用帶加熱和制冷功能的可編程高低溫箱進(jìn)行測試。 先檢查產(chǎn)品拍照,再放進(jìn)高低溫箱中,設(shè)置溫度箱參數(shù)、各自溫度保持時間、周期數(shù)等,測試結(jié)束再檢查樣品性能,對比分析。 編輯:Amanda王莉
不同測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有何影響?
不同的測試環(huán)境對 PCBA 應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果有著顯著的影響。溫度環(huán)境是一個關(guān)鍵因素。在高溫環(huán)境下,PCBA 上的各種材料會因為熱膨脹而發(fā)生尺寸變化。例如,電路板的基板材料、芯片封裝材料以及焊點(diǎn)等都會膨脹。由于不同材料的熱膨脹系數(shù)不同,這種膨脹差異會導(dǎo)致內(nèi)部產(chǎn)生熱應(yīng)力。在高溫測試環(huán)境中,應(yīng)力應(yīng)變測試結(jié)果通常會顯示出比常溫下較高的應(yīng)力值,尤其是在不同材料的交接處,如芯片與基板之間的焊點(diǎn),這種熱應(yīng)力可能
不同類型的紙板(如瓦楞紙板、白板紙、箱紙板等)耐破強(qiáng)度受哪些因素影響?如何提高這些紙板的耐破強(qiáng)度?
一、影響不同類型紙板耐破強(qiáng)度的因素瓦楞紙板原紙質(zhì)量:瓦楞紙板由面紙、里紙和瓦楞芯紙組成。原紙的纖維長度、強(qiáng)度和韌性對耐破強(qiáng)度影響顯著。長纖維的紙張強(qiáng)度高,能承受較大的壓力。例如,使用針葉木漿纖維制成的原紙通常比闊葉木漿纖維的強(qiáng)度高,因為針葉木漿纖維較長。瓦楞形狀和層數(shù):瓦楞的形狀(如 A 型、B 型、C 型等)和層數(shù)會影響耐破強(qiáng)度。A 型瓦楞的高度較高,緩沖性能好,但耐破強(qiáng)度相對較低;C 型瓦楞的
灰分檢測結(jié)果對橡塑材料性能有著多方面的影響:一、力學(xué)性能方面拉伸強(qiáng)度和模量灰分主要是橡塑材料中的無機(jī)成分。如果灰分含量過高,且這些無機(jī)成分以較大顆?;驁F(tuán)聚體存在,會成為應(yīng)力集中點(diǎn)。例如,在橡膠拉伸過程中,這些顆粒周圍*產(chǎn)生裂紋,導(dǎo)致拉伸強(qiáng)度和模量下降。但如果灰分是經(jīng)過良好分散的增強(qiáng)性無機(jī)填料,如納米級的二氧化硅填充在橡膠中,適當(dāng)?shù)暮靠梢蕴岣卟牧系睦鞆?qiáng)度和模量,使材料較具韌性。硬度和耐磨性一定
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