容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求,在高低溫試驗(yàn)箱、高溫老化房等實(shí)驗(yàn)設(shè)備作高低溫試驗(yàn)和老化試驗(yàn)的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。
而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個(gè)基本的簡單原則。
溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù),通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱等試驗(yàn)設(shè)備得以實(shí)現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗(yàn)箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升,或者高溫(比如70℃,甚至150℃等),或者通過壓縮機(jī)制冷降溫,或者產(chǎn)生低溫(比如-40℃,抑或-70℃)從而導(dǎo)致材料本身受到溫度變化而產(chǎn)生物化性質(zhì)的變化。溫度變化對產(chǎn)品的影響簡單歸納為以下四點(diǎn)影響:
1、材料間熱應(yīng)力不同造成的開裂;
2、膨脹、收縮、變型是主要應(yīng)力;
3、電參數(shù)的變化;
4、溫度變化產(chǎn)生的冷凝。
特別在溫度沖擊(驟冷驟熱)情況下,材料受溫度變化的影響較大。
熱力學(xué)中有個(gè)重要的公式—阿累尼烏斯方程,它是用來描述化學(xué)物質(zhì)反應(yīng)速率隨溫度變化關(guān)系的經(jīng)驗(yàn)公式。阿累尼烏斯方程可以用來計(jì)算電容壽命電容工作每下降10度,其壽命增加一倍,反過來也就是電容溫度升高10度,電容壽命減小一倍,公式如下:
1、Lo:為電容在zui大溫度時(shí)的壽命。
2、Lop:為電容工作壽命,即設(shè)計(jì)壽命。
3、Th:為電容的實(shí)際工作時(shí)候的溫度,即電容中心點(diǎn)溫度。
4、Tmax:為電容的zui*作溫度,在電容的說明書上一般會(huì)有電容的zui大溫度值。
舉例來說,一般作高低溫試驗(yàn)箱高低溫試驗(yàn)、高溫老化房高溫老化試驗(yàn),都有一個(gè)溫度范圍,現(xiàn)在jia設(shè)工作溫度-40~+105℃,在105℃的工作環(huán)境下壽命是50Hr。工作環(huán)境的溫度每降低10℃,壽命增加1倍,在95℃時(shí),就能為1000Hh,溫度每升高10度壽命就縮短一半,在115℃時(shí),只有4000Hr。
通過對這個(gè)方程簡單的舉例運(yùn)算,結(jié)合10度法則,我們就可以簡單判斷一般產(chǎn)品的在什么溫度下的壽命。當(dāng)然,這只是估算,具體問題因?yàn)楫a(chǎn)品的物化組成不同還得具體分析。
詞條
詞條說明
任何產(chǎn)品研制的時(shí)候都是根據(jù)規(guī)定的環(huán)境進(jìn)行的,這里規(guī)定的環(huán)境包括溫度、濕度、氣壓、振動(dòng)等,因?yàn)槭褂铆h(huán)境不同,意味著產(chǎn)品將承受不同的應(yīng)力,當(dāng)這些應(yīng)力**過產(chǎn)品所能承受的強(qiáng)度較**,產(chǎn)品將喪失或漸變其原有的性能,因此產(chǎn)品的可靠性也會(huì)不同。也就是說,同一種產(chǎn)品在不同的環(huán)境條件下其可靠性是不同的。產(chǎn)品可靠性是產(chǎn)品質(zhì)量的一個(gè)組成部分,產(chǎn)品規(guī)定功能的充分發(fā)揮,在很大程度上取決于產(chǎn)品可靠性高低。而影響電子產(chǎn)品可靠性
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