電氣電子組件的可靠性測試

時間：2023-07-20作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：27

任何產(chǎn)品研制的時候都是根據(jù)規(guī)定的環(huán)境進(jìn)行的，這里規(guī)定的環(huán)境包括溫度、濕度、氣壓、振動等，因為使用環(huán)境不同，意味著產(chǎn)品將承受不同的應(yīng)力，當(dāng)這些應(yīng)力**過產(chǎn)品所能承受的強(qiáng)度較**，產(chǎn)品將喪失或漸變其原有的性能，因此產(chǎn)品的可靠性也會不同。也就是說，同一種產(chǎn)品在不同的環(huán)境條件下其可靠性是不同的。

產(chǎn)品可靠性是產(chǎn)品質(zhì)量的一個組成部分，產(chǎn)品規(guī)定功能的充分發(fā)揮，在很大程度上取決于產(chǎn)品可靠性高低。而影響電子產(chǎn)品可靠性的因素很多，較關(guān)鍵的一個就是環(huán)境條件，當(dāng)然不同的環(huán)境對電子產(chǎn)品可靠性的影響大小也是不一樣的，有的影響很嚴(yán)酷，有些則是微弱的。例如，高溫和低溫對汽車電子產(chǎn)品的影響是很嚴(yán)重的。

因此汽車電子設(shè)備制造商必須在產(chǎn)品出廠前，經(jīng)過嚴(yán)格的高低溫試驗，保證其安全性和可靠性才能讓設(shè)計者和制造者對產(chǎn)品質(zhì)量信心十足。

電氣電子組件的高低溫試驗標(biāo)準(zhǔn)

Q/BYD-AF01.707.1-2010標(biāo)準(zhǔn)中給出了比亞迪汽車電氣電子組件系統(tǒng)的可靠性試驗和要求的總體框架，該標(biāo)準(zhǔn)屬于汽車電氣電子組件的通用型標(biāo)準(zhǔn)，它在規(guī)定試驗和標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)則的同時，在嚴(yán)酷等級等要素上給出了多個選項，它也根據(jù)電子產(chǎn)品的不同安裝位置，給出了不同的試驗條件及判定等級。

例如，比亞迪汽車前區(qū)域內(nèi)部的電子組件（電喇叭），它的貯存溫度范圍在-40℃~120℃，它的工作溫度范圍在-40℃~105℃。在標(biāo)準(zhǔn)QBYDQ-AF01.707.4-2010中直接給出了比亞迪汽車電氣電子組件可靠性氣候負(fù)荷試驗方案示例，其中主要以高低溫試驗為主要性能來進(jìn)行測試。

1.高低溫貯存試驗

（1）分別將兩個試樣系統(tǒng)/組件在未連接線束的工作模式下，放入高溫箱和低溫箱內(nèi)；

（2）調(diào)節(jié)低溫箱內(nèi)的溫度為-40℃，高溫箱內(nèi)的溫度為120℃，分別在此溫度下保持48h；

（3）試驗結(jié)束后將試樣取出，并在常溫下放置幾小時，觀察其功能狀態(tài)是否自動恢復(fù)到正常運(yùn)行且功能符合設(shè)計的要求。

2.高低溫工作試驗

（1）分別將兩個試樣系統(tǒng)/組件帶電運(yùn)行并控制在典型工作模式下，放入高溫箱和低溫箱內(nèi)；

（2）調(diào)節(jié)低溫箱內(nèi)的溫度為-40℃，高溫箱內(nèi)的溫度為105℃，在低溫環(huán)境下放置24h，在高溫環(huán)境下放置96h；

（3）試驗結(jié)束后將試樣取出，并在常溫下放置幾小時，觀察其功能狀態(tài)在試驗過程中和試驗結(jié)束后是否都符合設(shè)計要求。

3.低溫啟動試驗

（1）將試樣系統(tǒng)/組件帶電運(yùn)行并控制在典型工作模式下，放在室溫環(huán)境中2min；

（2）再以不通電狀態(tài)下放入低溫箱內(nèi)，調(diào)節(jié)低溫箱的溫度為-40℃，放置24h；

（3）再給處在-40℃的低溫箱內(nèi)的試樣通電，并啟動產(chǎn)品，保持1h;

（4）試驗結(jié)束后將試樣取出，觀察其功能狀態(tài)是否符合設(shè)計要求。


廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 溫度循環(huán)試驗箱的特點

  溫度循環(huán)試驗箱該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗。 1、溫度循環(huán)試驗箱采用進(jìn)口7寸真彩觸摸屏,畫面顯示直觀.易操作,可做定值和程式控制,人機(jī)界面友好互動式操作控制。 2、250組12500段儲存,250天歷史數(shù)據(jù)保存功能. 3、預(yù)約開關(guān)機(jī)功能,結(jié)束規(guī)劃設(shè)定,停電自動保存數(shù)據(jù)曲線等. 4、標(biāo)配USB/RS-232接口,試驗數(shù)

• 快速溫度變化試驗箱特點

  ? 1、結(jié)構(gòu)采用無夾套、組合式的設(shè)計思路，具有簡潔的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，維修使用較為方便。 ? 2、外殼采用冷軋薄鋼板，表面噴塑處理，美觀大方，經(jīng)久耐用。內(nèi)膽工作室采用了不銹鋼板，內(nèi)表面平整、清潔。工作室右側(cè)配有循環(huán)裝置、加熱器、制冷蒸發(fā)器等部件，**部配有一對鼓風(fēng)電機(jī)，使冷熱空氣循環(huán)進(jìn)出工作室，以保證工作室溫度要求。 ? 3、內(nèi)外門密封條采用硅橡膠材

• LED設(shè)備ke靠性測試項目

  靜電放電(ESD)測試：?LED元件的ESD電阻**通用C。除非添加齊納二極管，否則大多數(shù)制造商無法保證ESD分類。然而，他們中的大多數(shù)已將HBM> 2KV和MM> 1KV設(shè)定為目標(biāo)。濕度敏感度等級(MSL)測試：大多數(shù)LED產(chǎn)品不屬于此類別。然而，對于表面貼裝器件(SMD)，該測試有助于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的防潮性，這可以促進(jìn)生產(chǎn)控制。熱阻(eth)和Tj的估算：?由于關(guān)鍵的

• 半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗箱常用試驗項目

  半導(dǎo)體芯片高低溫濕熱試驗箱是一種專門用于對半導(dǎo)體芯片和電子元器件進(jìn)行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設(shè)備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，可以對半導(dǎo)體芯片進(jìn)行的試驗有以下5個：1. 高溫儲存測試條件：85℃±5℃持續(xù)時間：1000h2. 低溫儲存測試條件：-40℃±5℃持續(xù)時間：1000h3. 溫度循環(huán)測試條件：-40℃～85℃持續(xù)時間：200