PCB的環(huán)境測試有哪些類型

時間：2023-07-13作者：廣東宏展科技有限公司瀏覽：59

高加速試驗

加速試驗包括高加速壽命試驗(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測試評估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性，包括高溫、高濕和設(shè)備通電時的振動/沖擊測試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測試期間，產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗通常包括在一個小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗。

濕度和腐蝕

許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中，因此PCB可靠性的常見測試是吸水測試。在這種類型的測試中，PCB在放入濕度控制的環(huán)境室之前和之后都要稱重。任何吸附在板上的水都會增加板的重量，重量的任何顯著變化都將導(dǎo)致取消資格。

在操作過程中進(jìn)行這些測試時，暴露的導(dǎo)體不應(yīng)在潮濕的環(huán)境中被腐蝕。當(dāng)達(dá)到一定電位時，銅很*氧化，這就是為什么暴露的銅通常被鍍上抗氧化合金的原因。一些例子包括ENIG、ENIPIG、HASL、鎳金和鎳。

熱沖擊與循環(huán)

熱測試通常與濕度測試分開進(jìn)行。這些測試包括反復(fù)改變電路板溫度和檢查熱膨脹/收縮如何影響可靠性。在熱沖擊測試中，電路板使用雙室系統(tǒng)在兩個較端溫度之間快速移動。低溫通常**冰點，高溫通常**基片的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(**~130℃)。熱循環(huán)使用單個腔室進(jìn)行，溫度以每分鐘10°C的速度從一個較端改變到另一個較端。

在這兩種測試中，電路板都會隨著電路板溫度的變化而膨脹或收縮。在膨脹過程中，導(dǎo)體和焊點會受到很高的應(yīng)力，這會加快產(chǎn)品的使用壽命，并使機(jī)械故障點得以識別。


廣東宏展科技有限公司專注于高低溫試驗箱,恒溫恒濕試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱等

• 詞條

  詞條說明

• 太陽能測試條件

  太陽能測試條件 ? 太陽能模塊可靠度試驗(太陽能電池) ?? 目的：太陽光電模塊的設(shè)計使用年限大約是20～30年，而可靠度試驗是仿真陸上太陽光電模塊(硅結(jié)晶)的設(shè)計驗證，讓模塊能夠在一般氣候下長期操作20年以上。 太陽能模塊試驗規(guī)范列表： IEC6125-陸地用太陽能電器元件環(huán)境試驗方法(GB-9535) GB 9535-陸地用太陽能電池元件環(huán)境試驗方法 GB 19

• 電子元器件需要要做高低溫濕熱試驗嗎??

  ? ? ? ?在實際應(yīng)用中，電子元件往往會受到高、低溫、濕、熱等環(huán)境因素的影響。為了確保電子元件在使用過程中的可靠性，必須對其進(jìn)行高、低溫、高濕、高濕測試。? ? ? ?高、低溫、高、低溫度、高、中、低、中、高溫度、高濕度、高濕度等環(huán)境因素對器件性能的影響。該測試方法能對電子元件在不同的工作條件下的工作狀態(tài)進(jìn)行仿真，并

• 判斷電容器壽命與溫度的相關(guān)性—10度法則

  容器的壽命是一般電子產(chǎn)品壽命的較低要求，在高低溫試驗箱、高溫老化房等實驗設(shè)備作高低溫試驗和老化試驗的過程中溫度的影響可以以電容器耐溫程度為主。而10度法則是判斷電容器壽命與溫度之間的關(guān)系的一個基本的簡單原則。溫度是環(huán)境應(yīng)力中經(jīng)常的參數(shù)，通過高低溫試金箱、冷熱沖擊試驗箱、恒溫恒濕試驗箱等試驗設(shè)備得以實現(xiàn)。材料、產(chǎn)品或者元器件在試驗箱中通過電熱管加熱產(chǎn)生溫升，或者高溫（比如70℃，甚至150℃等），或

• 光纖收發(fā)器高低溫測試

  近年來光通訊市場發(fā)展持續(xù)成長, 進(jìn)而通訊設(shè)備廠商對于光收發(fā)器 Transceiver, SFP 光模塊等光組件需求量大增. 光纖收發(fā)器本身使用時會產(chǎn)生高熱, 加上其安裝的環(huán)境通常在戶外, 故溫度過高或過低時, 光纖收發(fā)器是否可正常運作, 是生產(chǎn)企業(yè)必須解決的問題！針對收發(fā)器溫度測試, **過*歷史的法國捷龍Dragon ThermoStream **高速高低溫循環(huán)沖擊測試機(jī)能夠快速提供高低溫測試