如何解決高低溫試驗箱不降溫、降溫慢？

時間：2023-07-21

高低溫試驗箱制冷方式有兩種，一種液氮制冷，這種通常用于深冷低溫箱（如溫度為-100℃、-200℃甚限低溫時），另一種為機械制冷，采用壓縮機進行冷卻，這種制冷方式在環(huán)境試驗設備行業(yè)應用廣泛，本文中高低溫試驗箱不降溫、降溫慢應如何解決就是針對機械式制冷的解決方法。

高低溫試驗箱出現(xiàn)不降溫情況時，首先應把環(huán)境溫度降至5℃～28℃之間，然后檢測查是不是由于風冷式冷凝器因使用時間較長，累積灰塵太厚的原因，如果是清理冷凝器上的灰塵即可（可用壓縮空氣進行吹掃），如冷凝器表面很干凈或者是新機時，應觀看制冷壓力表的讀數(shù)是多少，靜壓一般會在6公斤（或90psi,壓力表里面一圈）以上，停機狀態(tài)下的壓力位置（出廠時在壓力表上畫了黑線作記號），如**則可能存在漏冷媒，導致制冷量不夠，需檢修制冷系統(tǒng)。

如果判斷不是制冷液泄露的原因，則用表測量固態(tài)繼電器是否有擊穿（負載端1腳與2腳擊穿，完全相通），導致加熱管一直工作，抵消了壓縮機的制冷，所以不降溫.還有一種可能是制冷電磁閥沒有打開，或線圈損壞，用萬用表電阻檔測量電磁閥線圈的阻值，正常情況下，阻值在1000歐姆左右，如果沒有阻值則表示開路，如果阻值偏少，則可能存在短路現(xiàn)象;

附：高低溫試驗箱降溫慢的解決方法

1、工作室熱負載過大，風機不轉(zhuǎn)，大門沒有關好（漏氣）

2、部分固態(tài)繼電器擊穿（如加熱有2個固態(tài)繼電器，有1個擊穿）導致一部分加熱管在加熱，抵消了部分制冷量，從而造成降溫慢的假像。

3、試驗箱內(nèi)試驗品堆放得太多（正常情況下不**過內(nèi)箱總?cè)莘e的三分之一），導致風無法循環(huán)，溫度波動。

詞條
詞條說明
半導體芯片高低溫濕熱試驗箱常用試驗項目
半導體芯片高低溫濕熱試驗箱是一種專門用于對半導體芯片和電子元器件進行高溫、低溫和濕熱環(huán)境測試的設備。它可以模擬不同的環(huán)境條件，以評估芯片和元器件在較端溫度和濕度下的性能和可靠性。根據(jù)相關標準，可以對半導體芯片進行的試驗有以下5個：1. 高溫儲存測試條件：85℃±5℃持續(xù)時間：1000h2. 低溫儲存測試條件：-40℃±5℃持續(xù)時間：1000h3. 溫度循環(huán)測試條件：-40℃～85℃持續(xù)時間：200
高低溫試驗箱測試前的準備工作
高低溫試驗箱可以用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時的適應性試驗，以及溫度漸變試驗，除此之外還可以對電子元器件進行應力篩選試驗。那么高低溫試驗箱在進行測試前都有準備工作呢?高低溫試驗箱測試前的準備工作：1、確定高低溫試驗所依據(jù)的檢測標準，若沒有標準可依據(jù)，可以依據(jù)相關的產(chǎn)品規(guī)范要求。2、確定高低溫試驗的程序以及測試的條件，溫度點，試驗時間等。3、確定高低溫試驗
可靠性鑒定和驗收試驗是什么？
可靠性鑒定試驗是為驗證產(chǎn)品的設計是否達到了規(guī)定的可靠性要求，由認購方認可的單位按選定的抽樣方案抽取具有代表性的產(chǎn)品，并在規(guī)定條件下所進行的試驗。可靠性鑒定試驗是產(chǎn)品使用可靠程度的確認試驗，也是公司研發(fā)產(chǎn)品在批量化生產(chǎn)前進行的一種驗證試驗。可靠性驗收試驗是為驗證公司所生產(chǎn)產(chǎn)品是否達到規(guī)定的可靠性要求，在規(guī)定條件下所進行的試驗。可靠性鑒定試驗和驗收試驗都屬于驗證試驗，也可以稱為統(tǒng)計試驗。統(tǒng)計試驗方案類
如何校準高低溫試驗箱的溫度偏差？
一、在無負載條件下開展校準：此方法的優(yōu)點是：高低溫試驗箱的整個工作區(qū)域都得到了校準、測試樣品變得較時不需要重新校準、能夠?qū)Ω叩蜏卦囼炏涞倪m用性做出有效的評估。它的主要缺點是：不能評估測試樣品對試驗箱所造成的影響。? 二、在有負載條件下開展校準：此方法的優(yōu)點是：能夠比較準確地評估測試樣品對試驗箱性能的影響、易于得到測試樣品關鍵部件或部位的環(huán)境試驗的詳細信息。而它的主要缺點是：當更換測試樣品