【雷達(dá)物位計(jì)】雷達(dá)物位計(jì)應(yīng)該如何選型

時(shí)間：2021-09-19作者：科威勒（中國(guó)）自動(dòng)化有限公司瀏覽：370

雷達(dá)物位計(jì)應(yīng)該如何選型




1、介電常數(shù)的選擇

首先要確定被測(cè)介質(zhì)的介電常數(shù)。雷達(dá)物位計(jì)是基于**-反射-接受的過(guò)程來(lái)實(shí)現(xiàn)物位測(cè)量的。因此被測(cè)介質(zhì)對(duì)雷達(dá)波的反射率是必須考慮的，而介質(zhì)對(duì)雷達(dá)波的反射率跟介質(zhì)的介電常數(shù)成正比。目前，主流雷達(dá)物位計(jì)要求的低介電常數(shù)約為1.5，介電常數(shù)**1.5的介質(zhì)不應(yīng)選用雷達(dá)物位計(jì)。對(duì)于一些剛過(guò)臨界點(diǎn)的介質(zhì)，比如一些液化石油氣的介電常數(shù)約為1.6左右，這種臨界情況下，如果選用非接觸式雷達(dá)物位計(jì)，一般采用增加一根導(dǎo)波管的方案，增強(qiáng)雷達(dá)波回波信號(hào)，即可滿足測(cè)量要求。低介電常數(shù)和變介電常數(shù)的被測(cè)介質(zhì)，優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。低介電常數(shù)液體介質(zhì)反射信號(hào)弱，信號(hào)衰減嚴(yán)重，物位波動(dòng)和泡沫散射引起信號(hào)減弱，罐內(nèi)障礙物反射引起虛假信號(hào)，為此就需要**較強(qiáng)的電磁波信號(hào)，并采用功能強(qiáng)的微處理器進(jìn)行復(fù)雜的信號(hào)處理。這就使得常規(guī)交流供電雷達(dá)物位計(jì)價(jià)格非常昂貴，但仍難以較好的解決在上述條件下的物位測(cè)量問(wèn)題。導(dǎo)波雷達(dá)和常規(guī)雷達(dá)一樣，采用傳輸時(shí)間來(lái)測(cè)量介質(zhì)物位，信號(hào)自烴類(lèi)[介電常數(shù)2~3]液體表面或自水[介電常數(shù)80]面反射回傳的時(shí)間一樣的，不同的只是信號(hào)幅度（強(qiáng)度）的差別。普通雷達(dá)必須考慮介質(zhì)的影響，比較難辯識(shí)返回的各種信號(hào)，從雜散信號(hào)中檢出真正的物位信號(hào)，而導(dǎo)波雷達(dá)僅需測(cè)量電磁波的傳輸時(shí)間即可，*信號(hào)的處理和辨別。電磁波可以穿透空間蒸汽、粉塵等干擾源，遇到障礙物易于被反射，被測(cè)介質(zhì)導(dǎo)電性越好或介電常數(shù)越大，回波信號(hào)的反射效果越好。

2、量程的合理選擇

在選用雷達(dá)物位計(jì)時(shí)，往往有一種錯(cuò)誤看法，認(rèn)為選用的量程只要大于槽罐的高度就行。事實(shí)上，雷達(dá)物位計(jì)上標(biāo)識(shí)的量程可能是它的大量程，選型時(shí)還要看容器的特性，如貯罐表面平穩(wěn)還是有波紋，甚至有攪拌。同一型號(hào)的雷達(dá)料位計(jì)在不同情況下所能測(cè)量的實(shí)際料位有很大差別。某型號(hào)雷達(dá)，量程是20m，只是表面平穩(wěn)液體可以測(cè)量20m，如用在無(wú)攪拌有波紋的緩沖罐上，就只能測(cè)量10m。用其測(cè)量十幾米的帶有攪拌的料位時(shí)，經(jīng)常測(cè)量不到低料位，這實(shí)際是選型量程不夠，增加量程后問(wèn)題得到解決。





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