X-ray檢測技術(shù)在LED芯片/器件封裝缺陷檢測中的應(yīng)用

    近些年來,隨著制造成本的下降和發(fā)光效率、光衰等技術(shù)瓶頸的突破,我國的LED照明產(chǎn)業(yè)進(jìn)入了加速發(fā)展階段,應(yīng)用市場增長,這導(dǎo)致了LED封裝產(chǎn)品的巨大市場,催生出了成千上萬家LED封裝企業(yè),使我國成為上LED封裝的一產(chǎn)量大國。

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    但隨之而來的問題是,行業(yè)內(nèi)LED封裝產(chǎn)品質(zhì)量參差不齊的現(xiàn)象也成為了LED照明行業(yè)不容小覷的成長阻力因素。若LED封裝的廢品/次品率為0.1%,則全國每年萬億只LED封裝產(chǎn)品中就可能產(chǎn)生數(shù)億只廢品/次品,造成近億元的直接經(jīng)濟(jì)損失。

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    從LED的封裝工藝過程看,在芯片的擴(kuò)片、備膠、點(diǎn)晶環(huán)節(jié),有可能對芯片造成損傷,對LED的所有光、電特性產(chǎn)生影響;而在支架的固晶、壓焊過程中,則有可能產(chǎn)生芯片錯位、內(nèi)電接觸不良,或者外電引線虛焊或焊接應(yīng)力,芯片錯位影響輸出光場的分布及效率,而內(nèi)外電的接觸不良或虛焊則會增大LED的接觸電阻;在灌膠、環(huán)氧固化工藝中,則可能產(chǎn)生氣泡、熱應(yīng)力,對LED的輸出光效產(chǎn)生影響。

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    LED X-ray檢測設(shè)備 AX8500

    因此可知,在各個工藝環(huán)節(jié)任何微小差異都將對LED封裝產(chǎn)品的質(zhì)量造成直接影響。為了提可以產(chǎn)品封裝質(zhì)量,需要在各個生產(chǎn)工藝環(huán)節(jié)對其芯片/封裝質(zhì)量進(jìn)行檢測,以將次品、廢品控制在低限度。由于LED芯片/器件封裝的小型、精細(xì)及復(fù)雜特性,常規(guī)的檢測方法幾乎難以實(shí)現(xiàn)封裝中的質(zhì)量檢測,而采用X-ray檢測技術(shù)不破壞產(chǎn)品整體結(jié)構(gòu)就能觀察到內(nèi)部缺陷,是很有必要的檢測手段。

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    X -ray 檢 測 圖 片

    我司一直以來致力于X-ray技術(shù)的研究與X-ray智能檢測裝備的制造,其自主研制的型號為AX8500的LED X-ray檢測設(shè)備具有易操作、軟件人性化設(shè)計(jì),可以度系統(tǒng)可用性等特點(diǎn)。在LED封裝工藝環(huán)節(jié)中使用該設(shè)備,能有效對LED芯片損傷、錯位、器件虛焊及其他內(nèi)部缺陷進(jìn)行無損檢測,是提可以封裝水平、保證封裝質(zhì)量與控制的一個重要手段。該設(shè)備還特別適用于SMT、BGA、CSP、倒裝芯片檢測、半導(dǎo)體、封裝元器件、陶瓷制品、光伏行業(yè)、航空組件等特殊行業(yè)檢測。

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    昆山市周市牧亞凱機(jī)電設(shè)備商行專注于高分子材料成分分析儀,鄰苯4P檢測儀,鄰苯四項(xiàng)檢測儀,國內(nèi)ROHS2.0標(biāo)準(zhǔn)測試儀器,天瑞合良好號分析儀,ROHS2.0十項(xiàng)分析儀,手持式非甲烷總烴檢測儀,天瑞保溫杯ROHS測試儀,手持式FID氫火焰VOC氣體檢測儀,電鍍表面厚度測厚儀等, 歡迎致電 18550531168

  • 詞條

    詞條說明

  • 氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀器

    有害**物分析RoHS/WEEE指令禁止使用: 多溴(PBBs)、溴苯醚(PBDEs)化學(xué)物質(zhì) 標(biāo)準(zhǔn)/測試參考 測試儀器多溴和多溴苯醚 76/769/EEC, 83/264/EEC氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用儀復(fù)雜而重要的樣品前處理目前常采用索式萃取法(EPA8081)和聲波萃取法將多溴,多溴醚萃取到容器中,由于塑料產(chǎn)品中本體及復(fù)雜的添加劑和助劑也會溶解到萃取劑中,所以還要進(jìn)行凈化將待測樣品與復(fù)雜基質(zhì)分離.

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