optodiode探測(cè)器常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法如下:美國(guó)optodiode探測(cè)器響應(yīng)時(shí)間太長(zhǎng)(時(shí)間常數(shù)太慢),第一步是檢查源強(qiáng)度。如果光源的強(qiáng)度太高(**過(guò)1mW/cm2),探測(cè)器材料將加熱到改變探測(cè)器特性的點(diǎn)。這種變化迫使探測(cè)器比較初進(jìn)行測(cè)量所需的時(shí)間較長(zhǎng),因?yàn)榛旧咸綔y(cè)器被重新敏化,這改變了探測(cè)器的光導(dǎo)特性。對(duì)探測(cè)器性能的影響程度取決于加熱/變化區(qū)域與整個(gè)探測(cè)器表面積的比率。
optodiode探測(cè)器是線(xiàn)性的嗎?通常,當(dāng)我們談?wù)摼€(xiàn)性時(shí),我們指的是響應(yīng)性線(xiàn)性。當(dāng)膠片耗盡自由載流子時(shí),這些載流子將被入射光子強(qiáng)制傳導(dǎo),探測(cè)器被推入非線(xiàn)性區(qū)域。入射光子不再增加探測(cè)器的響應(yīng)。有關(guān)線(xiàn)性圖表,請(qǐng)參閱下圖。PbS,PbSe探測(cè)器信號(hào)輸出與入射輻射呈線(xiàn)性關(guān)系,范圍為10-7W/cm2至10-3W/cm2。
optodiode探測(cè)器的具體應(yīng)用問(wèn)題
探測(cè)器可以用于脈沖激光輪廓或定位,只要激光的脈沖寬度足夠長(zhǎng),波長(zhǎng)在正確的范圍內(nèi),功率密度在極限范圍內(nèi)。請(qǐng)注意您正在使用/考慮的型號(hào)的探測(cè)器時(shí)間常數(shù)。探測(cè)器時(shí)間常數(shù)在微秒范圍內(nèi)。如果脈沖寬度明顯快于此范圍,則探測(cè)器將沒(méi)有足夠的時(shí)間響應(yīng)激光脈沖。
如果用于測(cè)量脈沖激光束的輻射,探測(cè)器可以在沒(méi)有斬波器的情況下使用嗎?
美國(guó)optodiode探測(cè)器不需要斬波器。斬波器通常用于調(diào)制信號(hào)源,允許對(duì)信號(hào)進(jìn)行頻段限制放大,從而提高信號(hào)/噪聲比。如果光源已經(jīng)調(diào)制(脈沖激光束),則*使用斬波器。必須注意確保探測(cè)器膠片上的激光功率不足以損壞膠片。此外,要使此應(yīng)用正常工作,脈沖必須在探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間內(nèi)。
optodiode探測(cè)器與不同探測(cè)器材料的比較
正在使用InGaAs陣列,如何切換到PbS陣列。PbS陣列的**效率是多少?
光電探測(cè)器(PbS)不以**效率為特征,因?yàn)閺睦碚撋现v,與InGaAs光伏探測(cè)器不同,它們是完全有效的(**QE)。比較PbS和InGaAs陣列的較好方法是使用檢測(cè)率(D *),這實(shí)際上是歸一化的信噪比。通常,PbS探測(cè)器的檢測(cè)率略**擴(kuò)展的InGaAs光伏探測(cè)器。但是,如果您正在研究較短的波長(zhǎng)(<1.7μm),標(biāo)準(zhǔn)InGaAs的D*值往往**PbS。
PV=光伏,PC=光電
探測(cè)器的可檢測(cè)性,檢測(cè)率定義為按探測(cè)器面積歸一化的探測(cè)器的信噪比。隨著探測(cè)器溫度的降低,檢測(cè)率增加。請(qǐng)查閱下圖,了解PbS探測(cè)器和PbSe探測(cè)器的檢測(cè)率與溫度的關(guān)系圖。
探測(cè)器的光譜響應(yīng),光譜響應(yīng)定義了探測(cè)器對(duì)各種波長(zhǎng)輻射的靈敏度。PbS探測(cè)器在1-3μm區(qū)域敏感,PbSe探測(cè)器在1-5.5μm區(qū)域敏感。冷卻探測(cè)器會(huì)將PbS探測(cè)器和PbSe探測(cè)器的光譜響應(yīng)轉(zhuǎn)移到較長(zhǎng)的波長(zhǎng)。標(biāo)準(zhǔn)PbS和PbSe探測(cè)器的典型光譜響應(yīng)如下所示。
探測(cè)器工作溫度如何影響探測(cè)器特性?隨著探測(cè)器工作溫度的降低,檢測(cè)率、響應(yīng)度和光譜響應(yīng)也會(huì)提高。
PbS/PbSe探測(cè)器的典型頻率響應(yīng)是多少?探測(cè)器具有1/f噪聲特性,因此較低的頻率具有較高的噪聲,因此D*值較低。隨著斬波頻率的增加,信號(hào)電平保持相對(duì)恒定,直至達(dá)到探測(cè)器響應(yīng)限值。因此,如果系統(tǒng)沒(méi)有頻段限制噪聲測(cè)量(寬帶放大),則信號(hào)/噪聲(D*)將恒定在響應(yīng)限值以下。如果噪聲讀數(shù)在斬波頻率周?chē)蓄l帶限制,則D*將增加到探測(cè)器響應(yīng)由于其時(shí)間常數(shù)而開(kāi)始滾降的程度。對(duì)于PbSe探測(cè)器,選擇1kHz作為標(biāo)準(zhǔn)斬波頻率,因?yàn)樗h(yuǎn)離1/f噪聲,但**時(shí)間常數(shù)響應(yīng)限值。下圖為PbS/PbSe探測(cè)器典型頻率響應(yīng)的圖表。
optodiode探測(cè)器的偏置電路
對(duì)偏置電路有哪些建議?對(duì)于我們的測(cè)試,我們使用分壓器偏置電路,其負(fù)載電阻設(shè)置為1兆歐或設(shè)置為等于檢測(cè)器暗電阻的電阻。運(yùn)算放大器幾乎可以是具有高輸入阻抗的任何東西。我們推薦使用FET輸入運(yùn)算放大器,其輸入電阻通常約為10^12歐姆,并且工作良好。請(qǐng)參閱我們的探測(cè)器技術(shù)說(shuō)明部分,了解簡(jiǎn)單的測(cè)試偏置電路圖。
負(fù)載電阻值應(yīng)設(shè)置在什么位置?應(yīng)選擇負(fù)載電阻值以匹配探測(cè)器暗電阻。
詞條
詞條說(shuō)明
電動(dòng)平移臺(tái)步進(jìn)電機(jī)和直線(xiàn)電機(jī)之間的不同之處
步進(jìn)電機(jī)和直線(xiàn)電機(jī)都是電動(dòng)位移臺(tái)和顯微鏡電動(dòng)平臺(tái)的主流技術(shù),直線(xiàn)電機(jī)又稱(chēng)為直流電機(jī),具有精度較高、重復(fù)性好,速度較快、運(yùn)行較穩(wěn)定的特點(diǎn)。步進(jìn)電機(jī)也稱(chēng)為步進(jìn)馬達(dá),一般采用傳統(tǒng)的絲杠驅(qū)動(dòng),技術(shù)成熟,相對(duì)于直線(xiàn)電機(jī)而言,步進(jìn)電機(jī)*,適用于一些對(duì)精度要求沒(méi)有那么高的應(yīng)用。ADR直線(xiàn)電機(jī)載物臺(tái)提供**的長(zhǎng)期可靠性。它們?cè)谝罂量痰母咄掏铝康某上駪?yīng)用中經(jīng)過(guò)數(shù)百萬(wàn)次循環(huán)的現(xiàn)場(chǎng)驗(yàn)證。非接觸式電機(jī)和編碼器
LaserOptik對(duì)大型光學(xué)器件鍍膜技術(shù)
LASEROPTIK使用專(zhuān)門(mén)的設(shè)備對(duì)大型光學(xué)器件進(jìn)行電介質(zhì)鍍膜,樣品的長(zhǎng)度可達(dá)2米(長(zhǎng)軸為矩形)或直徑為550毫米(圓形),在整個(gè)表面具有**的光譜均勻性和高LIDT值。自動(dòng)超聲波和手動(dòng)清洗程序保證了即使在這些大規(guī)模的幾何形狀上也有較佳的清潔度。下表列出了可能的尺寸。鍍膜技術(shù)矩形長(zhǎng)軸矩形短軸圓形IBS2000mm250mm550mmIAD1200mm100mm350mmEBE940mm80mm50
基于Block Engineering**級(jí)聯(lián)激光器的對(duì)生化威脅的非接觸檢測(cè)
Petros Kotidis, Erik R. Deutsch, Anish Goyal發(fā)表了一篇名為Standoff detection of chemical and biological threats using miniature widely tunable QCLs的文章。文中介紹了,為了應(yīng)對(duì)這種對(duì)防區(qū)外探測(cè)的強(qiáng)烈需求,Block?engineering MEMS,LLC(
Femtum中紅外納秒光纖激光器對(duì)薄膜加工的應(yīng)用表現(xiàn)
透明導(dǎo)電薄膜(TCF)廣泛用于現(xiàn)代電子設(shè)備中。這些薄的導(dǎo)電薄膜在沉積在玻璃、硅或聚合物基板上時(shí)可以帶電。TCF可用作OLED和太陽(yáng)能電池的電極,或者用于您較喜歡的手機(jī)觸摸屏上的導(dǎo)電層。圖1:透明導(dǎo)電膜(TCF)是所有觸摸屏技術(shù)的基礎(chǔ)在TCF中,氧化銦錫(ITO)因其出色的透明度和電氣特性而成為行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。較近的材料,如氧化石墨烯(GO)或PEDOT,由于它們比ITO較*彎曲,因此在柔性電子產(chǎn)品方面
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