晶柱成長制程

      《晶柱成長制程》
      硅晶柱的長成,首先需要將純度相當(dāng)高的硅礦放入熔爐中,并加入預(yù)先設(shè)定好的金屬物質(zhì),使產(chǎn)生出來的硅晶柱擁有要求的電性特質(zhì),接著需要將所有物質(zhì)融化后再長成單晶的硅晶柱,以下將對所有晶柱長成制程做介紹。  
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    長晶主要程序︰ 
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    融化(MeltDown) 
      此過程是將置放于石英坩鍋內(nèi)的塊狀復(fù)晶硅加熱制**攝氏1420度的融化溫度之上,此階段中較重要的參數(shù)為坩鍋的位置與熱量的供應(yīng),若使用較大的功率來融化復(fù)晶硅,石英坩鍋的壽命會降低,反之功率太低則融化的過程費時太久,影響整體的產(chǎn)能。 
      
    頸部成長(Neck Growth) 
      當(dāng)硅融漿的溫度穩(wěn)定之后,將<1.0.0>方向的晶種漸漸注入液中,接著將晶種往上拉升,并使直徑縮小到一定(約6mm),維持此直徑并拉長10-20cm,以消除晶種內(nèi)的排差(dislocation),此種零排差(dislocation-free)的控制主要為將排差局限在頸部的成長。 
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    晶冠成長(Crown Growth) 
      長完頸部后,慢慢地降低拉速與溫度,使頸部的直徑逐漸增加到所需的大小。  
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    晶體成長(Body Growth) 
        利用拉速與溫度變化的調(diào)整來遲維持固定的晶棒直徑,所以坩鍋必須不斷的上升來維持固定的液面高度,于是由坩鍋傳到晶棒及液面的輻射熱會逐漸增加,此輻射熱源將致使固業(yè)界面的溫度梯度逐漸變小,所以在晶棒成長階段的拉速必須逐漸地降低,以避免晶棒扭曲的現(xiàn)象產(chǎn)生。 
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    尾部成長(Tail Growth) 
      當(dāng)晶體成長到固定(需要)的長度后,晶棒的直徑必須逐漸地縮小,直到與液面分開,此乃避免因熱應(yīng)力造成排差與滑移面現(xiàn)象。

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  • 詞條

    詞條說明

  • **半導(dǎo)體現(xiàn)狀

    2019年**半導(dǎo)體市場陷入萎縮,而中國可圈可點 經(jīng)常會有人問半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)是什么樣的一種產(chǎn)業(yè)?魏少軍教授用奧地利經(jīng)濟學(xué)家約瑟夫·熊彼得的一句話來引出,那就是“創(chuàng)新不是一個技術(shù)概念,而是一個經(jīng)濟概念”。半導(dǎo)體或者芯片產(chǎn)業(yè),恰恰是一個創(chuàng)新驅(qū)動的產(chǎn)業(yè),它的發(fā)明較終變成了錢,它是靠創(chuàng)新的方式來發(fā)展。所以它是個創(chuàng)新驅(qū)動的產(chǎn)業(yè)。 了解了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的形式之后,再來看下半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展情況。以史為鑒,從1987年到

  • 招聘半導(dǎo)體實驗室銷售工程師

    事業(yè)單位招聘 科委檢測中心招聘失效分析崗位:半導(dǎo)體實驗室銷售人員,半導(dǎo)體實驗室銷售總監(jiān),半導(dǎo)體實驗室銷售經(jīng)理,半導(dǎo)體實驗室銷售工程師,半導(dǎo)體實驗室銷售專員。開發(fā)維護失效分析客戶,實驗室擁有完善的設(shè)備和技術(shù)團隊,成熟的測試分析流程。主要分析項目包含Decap;X-Ray;3D X-Ray;SAT;IV;FIB;EMMI;SEM;EDX;OM;Probe;切割制樣;Rie;**研磨;非**研磨;高溫存

  • 失效分析簡介

    電子元器件失效分析 1、簡介 電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設(shè)計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。 電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失

  • 失效分析含義和具體操作

    失效分析技術(shù),失效分析實驗室,失效機制是導(dǎo)致零件、元器件和材料失效的物理或化學(xué)過程。此過程的誘發(fā)因素有內(nèi)部的和外部的。在研究失效機制時,通常先從外部誘發(fā)因素和失效表現(xiàn)形式入手,進而再研究較隱蔽的內(nèi)在因素。在研究批量性失效規(guī)律時,常用數(shù)理統(tǒng)計方法,構(gòu)成表示失效機制、失效方式或失效部位與失效頻度、失效百分比或失效經(jīng)濟損失之間關(guān)系的排列圖或帕雷托圖,以找出必須首先解決的主要失效機制、方位和部位。任一產(chǎn)品

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